本文關(guān)鍵詞：拉伸與疲勞載荷下α-Ti中裂紋擴(kuò)展機(jī)制的原子模擬　出處：《安徽大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版)》2016年03期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：采用分子動力學(xué)方法模擬研究含3種不同裂紋取向的α-Ti在拉伸載荷和疲勞載荷作用下裂紋擴(kuò)展的微觀機(jī)制.研究表明:B(0001)[1-210]裂紋構(gòu)型通過產(chǎn)生變形孿晶的方式來實現(xiàn)垂直于基面方向的變形,單向拉伸過程中裂尖處有無位錯區(qū)出現(xiàn);A(1-210)[10-10]和C(1-210)[0001]裂紋構(gòu)型的失效過程表明基面位錯比柱面位錯更容易發(fā)射;C裂紋構(gòu)型循環(huán)加載時基面滑移系優(yōu)先開動,使位錯快速發(fā)射而釋放了裂尖應(yīng)力,導(dǎo)致裂紋出現(xiàn)止裂現(xiàn)象;含微裂紋α-Ti材料的失效過程是位錯形核與發(fā)射、缺陷擴(kuò)展、孿晶變形等共同作用的結(jié)果.
[Abstract]:The microscopic mechanism of crack propagation of 偽 -Ti with three different crack orientations under tensile and fatigue loads was simulated by molecular dynamics method. [The crack configuration realizes the deformation perpendicular to the base plane by producing deformation twins. During uniaxial tension, there are dislocations at the crack tip. [10-10] and Con 1-210). [The failure process of crack configuration indicates that the fundamental dislocation is easier to emit than the cylindrical dislocation. During cyclic loading of C crack configuration, the base slip system starts first, which causes the dislocation to emit rapidly and releases the crack tip stress, which leads to the crack stopping phenomenon. The failure process of 偽 -Ti materials with microcracks is the result of the interaction of dislocation nucleation and emission, defect propagation and twin deformation.
【作者單位】： 四川理工學(xué)院理學(xué)院;四川大學(xué)建筑與環(huán)境學(xué)院;四川理工學(xué)院自動化與電子信息學(xué)院;
【基金】：國防重點基金資助項目(B1520132013-1) 四川理工學(xué)院科研項目(2015RC41,2015RC44,2012KY16) 四川省教育廳科研項目(15ZB0207,13ZB0132)
【分類號】：O346.1
【正文快照】： 材料中的各種微缺陷(如:空位、孔洞、夾雜、微裂紋等)都嚴(yán)重影響材料的力學(xué)性能,材料的損壞往往從這些微缺陷附近開始萌生和擴(kuò)展,因此材料微缺陷附近的變形過程和失效機(jī)制引起了工程界和學(xué)術(shù)界的廣泛關(guān)注.實驗和理論表明,材料的特性取決于材料的微觀結(jié)構(gòu)[1].隨著計算機(jī)的發(fā)展,

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本文編號：1413387