聚焦離子束致形變微納加工研究進(jìn)展
本文關(guān)鍵詞:聚焦離子束致形變微納加工研究進(jìn)展
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【摘要】:聚焦離子束技術(shù)(focused ion beam,FIB)由于其高精度刻蝕、定點加工、實時成像等優(yōu)勢,常用于精密加工、TEM制樣等領(lǐng)域。其工作機理通常為:刻蝕、淀積與成像。而基于FIB新的加工手段正在被探索和研究,其中就包括兩種聚焦離子束致形變技術(shù),分別為聚焦離子束應(yīng)力引入致形變技術(shù)(FIB-stress induced deformation,FIBSID)和聚焦離子束物質(zhì)再分布致形變技術(shù)(FIB-material-redistribution induced deformation,FIB-MRD)。前者通過控制FIB輻照時離子注入與濺射之間的競爭關(guān)系實現(xiàn)懸臂梁的多角度彎曲,后者利用粒子與物質(zhì)作用時的瑞利不穩(wěn)定性構(gòu)建納米結(jié)構(gòu),在一定意義上擴充了聚焦離子束的應(yīng)用范圍。運用上述方法可以加工三維微納螺旋,懸浮光滑納米弦以及大規(guī)模陣列化納米網(wǎng)孔等多樣化微/納功能構(gòu)件,在微流控系統(tǒng),太赫茲通信,光學(xué)天線等領(lǐng)域具有很強的應(yīng)用前景。
【作者單位】: 北京大學(xué)微米/納米加工技術(shù)國家重點實驗室;北京大學(xué)電子顯微鏡實驗室;
【關(guān)鍵詞】: 聚焦離子束應(yīng)力引入致形變 聚焦離子束物質(zhì)再分布致形變 微/納功能結(jié)構(gòu)加工
【基金】:國家級先進(jìn)制造預(yù)研項目 國家自然科學(xué)基金資助項目(No.50775001) 國家“863計劃”專題課題(No.2009 AA01Z228)
【分類號】:TH16
【正文快照】:
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,本文編號:723618
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