高嶺土插層材料制備β-Sialon材料
發(fā)布時間:2021-11-07 03:56
以天然產(chǎn)物—高嶺土原土和插層高嶺土為原料,嘗試在相對較低合成溫度和對設(shè)備要求更簡單的條件下制備β-Sialon粉體。試驗結(jié)果表明,兩種樣品在1000℃±經(jīng)碳熱還原、氮化反應(yīng)合成出了β-Sialon晶須,產(chǎn)物含有莫來石和方石英等雜質(zhì);以高嶺土為原料合成出的β-Sialon粉體的Z值較低,且生成物中還含有氮化硅。在反應(yīng)條件相同的情況下,以插層高嶺土為原料合成β-Sialon的反應(yīng)進行得較完全。
【文章來源】:世界地質(zhì). 2007,(01)
【文章頁數(shù)】:5 頁
【部分圖文】:
以高嶺土為原料氮氣氛合成樣品的透射電子顯微鏡(TEM)照片
顯微結(jié)構(gòu)仍為氮化硅的晶須,但是形態(tài)上比未插層的高嶺土制得的晶須更加不規(guī)則,交叉結(jié)構(gòu)更復(fù)雜、更大,晶須的長度增加(圖4)。由于團聚作用,鏡下觀察到的大多數(shù)是表面具有短柱狀突起的大顆粒。同時還觀察到比一般晶須粗大得多的柱狀圖3 以高嶺土為原料氮氣氛合成樣品的透射電子顯微鏡(TEM)照片F(xiàn)ig·3 TEM photos of samples composed of kaolin inflowing nitrogen圖4 以插層高嶺土為原料氮氣氛合成樣品的透射電子顯微鏡(TEM)照片F(xiàn)ig·4 TEM photos of samples composed of kaolin-hy-drazine intercalation complex in flowing nitrogen132 世 界 地 質(zhì) 第26卷
X射線衍射分析結(jié)果的對比表明,紅外光譜同樣可以準確地表征Sialon材料。圖5為氮氣氛合成樣品的紅外光譜圖,圖6為還原氣氛合成樣品紅外光譜圖, a譜圖是高嶺土為原料合成的樣品, b譜圖是高嶺土插層材料為原料合成的樣品。由于Sialon材料是氮化硅中的Si和N被Al及O置換所形成的固溶體,所以其紅外光譜圖與氮化硅的紅外光譜圖相似,同時還包括Al-O、Al-N鍵的吸收峰,分析起來比較復(fù)雜。而本文實驗所制得的樣品中含有較多的莫來石和石英等雜質(zhì),大大增加了分析的難度。從圖5、6中可以看出
【參考文獻】:
期刊論文
[1]一種優(yōu)質(zhì)耐火材料—Sialon[J]. 李憲洲,劉研,范海,袁琳,杜有龍. 世界地質(zhì). 2006(03)
[2]高嶺土的深加工與新材料[J]. 劉研,李憲洲. 世界地質(zhì). 2004(02)
[3]β-賽隆(Sialon)/剛玉復(fù)相耐火材料研究[J]. 李亞偉,李楠,王斌耀,劉靜,陳方玉. 無機材料學報. 2000(04)
[4]碳熱還原氮化高嶺土合成Sialon粉末[J]. 張宏泉,戴英,李曄,李凝芳. 中國有色金屬學報. 1998(01)
[5]Sialon的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)與應(yīng)用[J]. 陳祖熊. 材料導(dǎo)報. 1993(01)
博士論文
[1]高嶺石有機插層反應(yīng)及Sialon材料原位合成[D]. 王林江.中國科學院研究生院(廣州地球化學研究所) 2002
本文編號:3481111
【文章來源】:世界地質(zhì). 2007,(01)
【文章頁數(shù)】:5 頁
【部分圖文】:
以高嶺土為原料氮氣氛合成樣品的透射電子顯微鏡(TEM)照片
顯微結(jié)構(gòu)仍為氮化硅的晶須,但是形態(tài)上比未插層的高嶺土制得的晶須更加不規(guī)則,交叉結(jié)構(gòu)更復(fù)雜、更大,晶須的長度增加(圖4)。由于團聚作用,鏡下觀察到的大多數(shù)是表面具有短柱狀突起的大顆粒。同時還觀察到比一般晶須粗大得多的柱狀圖3 以高嶺土為原料氮氣氛合成樣品的透射電子顯微鏡(TEM)照片F(xiàn)ig·3 TEM photos of samples composed of kaolin inflowing nitrogen圖4 以插層高嶺土為原料氮氣氛合成樣品的透射電子顯微鏡(TEM)照片F(xiàn)ig·4 TEM photos of samples composed of kaolin-hy-drazine intercalation complex in flowing nitrogen132 世 界 地 質(zhì) 第26卷
X射線衍射分析結(jié)果的對比表明,紅外光譜同樣可以準確地表征Sialon材料。圖5為氮氣氛合成樣品的紅外光譜圖,圖6為還原氣氛合成樣品紅外光譜圖, a譜圖是高嶺土為原料合成的樣品, b譜圖是高嶺土插層材料為原料合成的樣品。由于Sialon材料是氮化硅中的Si和N被Al及O置換所形成的固溶體,所以其紅外光譜圖與氮化硅的紅外光譜圖相似,同時還包括Al-O、Al-N鍵的吸收峰,分析起來比較復(fù)雜。而本文實驗所制得的樣品中含有較多的莫來石和石英等雜質(zhì),大大增加了分析的難度。從圖5、6中可以看出
【參考文獻】:
期刊論文
[1]一種優(yōu)質(zhì)耐火材料—Sialon[J]. 李憲洲,劉研,范海,袁琳,杜有龍. 世界地質(zhì). 2006(03)
[2]高嶺土的深加工與新材料[J]. 劉研,李憲洲. 世界地質(zhì). 2004(02)
[3]β-賽隆(Sialon)/剛玉復(fù)相耐火材料研究[J]. 李亞偉,李楠,王斌耀,劉靜,陳方玉. 無機材料學報. 2000(04)
[4]碳熱還原氮化高嶺土合成Sialon粉末[J]. 張宏泉,戴英,李曄,李凝芳. 中國有色金屬學報. 1998(01)
[5]Sialon的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)與應(yīng)用[J]. 陳祖熊. 材料導(dǎo)報. 1993(01)
博士論文
[1]高嶺石有機插層反應(yīng)及Sialon材料原位合成[D]. 王林江.中國科學院研究生院(廣州地球化學研究所) 2002
本文編號:3481111
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