隨著納米技術(shù)的迅速發(fā)展,特別是航天航空、超精密機(jī)械以及巨型操作機(jī)等領(lǐng)域中許多關(guān)鍵部件的運(yùn)動(dòng)精度和制造精度需要已達(dá)到亞微米甚至納米量級(jí),同時(shí)伴隨高壓力、高剪切率等復(fù)雜情況。而高剪切率會(huì)導(dǎo)致潤(rùn)滑材料分子鏈斷裂,高壓力會(huì)導(dǎo)致潤(rùn)滑膜破裂,這些行為都會(huì)引發(fā)摩擦副潤(rùn)滑失效,嚴(yán)重時(shí)將會(huì)導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)癱瘓。因此,探索潤(rùn)滑材料在高壓力、高剪切率、微間隙中的行為規(guī)律、尺度效應(yīng),對(duì)保障系統(tǒng)穩(wěn)定性、可靠性、經(jīng)濟(jì)性具有重要的理論意義和應(yīng)用價(jià)值。本文的主要工作和結(jié)論如下:首先,研制了高壓微間隙潤(rùn)滑測(cè)試系統(tǒng),可以應(yīng)用于苛刻工況條件下（高壓力、高剪切率、微間隙）潤(rùn)滑薄膜厚度、摩擦力和溫度的實(shí)時(shí)測(cè)量。本文的高壓微間隙潤(rùn)滑測(cè)試系統(tǒng)采用相對(duì)光強(qiáng)原理,其垂直方向上膜厚分辨率達(dá)到0.5nm,水平方向的分辨率可達(dá)1.0μm。利用高精度扭矩儀,對(duì)球與盤間的摩擦力進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量,測(cè)量精度為0.1N。運(yùn)用計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)了加載、設(shè)定轉(zhuǎn)速的自動(dòng)化。該系統(tǒng)為研究高壓微間隙點(diǎn)接觸成膜特性等問(wèn)題奠定了基礎(chǔ)。然后,在進(jìn)行高壓實(shí)驗(yàn)時(shí),選用了藍(lán)寶石盤和GCr15球作為摩擦副。主要研究了不同粘度和分子量大小的潤(rùn)滑材料,在不同壓力和速度下的成膜特性。結(jié)果表明:在... 

【文章來(lái)源】：大連理工大學(xué)遼寧省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

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【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

比色干涉測(cè)量法的基本原理哪】Fig.1.3ThebasiePrineiPleofeolorimetricinterferometry

圖1.4雙墊層測(cè)量法[27lF19.1.4Doublebeddingmeasurement

低載中出現(xiàn)的失效現(xiàn)象123]

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號(hào)：3080346