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點(diǎn)接觸混合潤(rùn)滑油膜厚度的實(shí)驗(yàn)研究與數(shù)值模擬

發(fā)布時(shí)間:2020-10-31 13:59
   在現(xiàn)代工程生產(chǎn)實(shí)際中,許多低速、重載以及采用低粘度潤(rùn)滑介質(zhì)潤(rùn)滑的機(jī)械和精密機(jī)械中的摩擦副常處于混合潤(rùn)滑狀態(tài);旌蠞(rùn)滑是在接觸界面間同時(shí)存在流體潤(rùn)滑和微凸體接觸的一種潤(rùn)滑狀態(tài);旌蠞(rùn)滑涉及到邊界潤(rùn)滑、薄膜潤(rùn)滑、微觀彈流潤(rùn)滑及流體動(dòng)壓潤(rùn)滑等多種潤(rùn)滑特征,潤(rùn)滑性能受到各種因素的影響。由于混合潤(rùn)滑問(wèn)題的復(fù)雜性,這種狀態(tài)下的潤(rùn)滑性能和機(jī)理尚未得到充分認(rèn)識(shí)。本文致力于從實(shí)驗(yàn)和計(jì)算兩方面研究納米尺度下點(diǎn)接觸混合潤(rùn)滑的油膜厚度。主要內(nèi)容包括: 分析了基于相對(duì)光強(qiáng)原理的光干涉法納米級(jí)膜厚測(cè)量?jī)x的可能誤差,研究了膜厚測(cè)量中的相關(guān)實(shí)驗(yàn)規(guī)范,為后續(xù)的膜厚測(cè)量實(shí)驗(yàn)提供了可靠的保證。 利用納米級(jí)膜厚測(cè)量?jī)x研究了載荷、潤(rùn)滑劑粘度、接觸面粗糙度等工況對(duì)點(diǎn)接觸混合潤(rùn)滑狀態(tài)下油膜厚度的影響。從實(shí)驗(yàn)結(jié)果中得到:當(dāng)卷吸速度比較高時(shí),實(shí)驗(yàn)測(cè)量的膜厚結(jié)果與Hamrock-Dowson公式的理論曲線基本吻合;當(dāng)卷吸速度比較低時(shí),膜厚測(cè)量值受載荷、潤(rùn)滑劑粘度、接觸面粗糙度的綜合影響;載荷與潤(rùn)滑劑粘度對(duì)高速區(qū)低速區(qū)的過(guò)渡點(diǎn)位置有影響。 利用等溫點(diǎn)接觸混合潤(rùn)滑模型研究了實(shí)驗(yàn)相關(guān)工況下的算例,并結(jié)合實(shí)驗(yàn)進(jìn)行了定性分析與定量比較。定性分析表明:計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果在偏離HD公式理論曲線情況、過(guò)渡點(diǎn)移動(dòng)等方面得到了吻合的規(guī)律;定量比較表明:計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果在過(guò)渡點(diǎn)位置、低速區(qū)膜厚值大小、零點(diǎn)位置等方面存在差異。
【學(xué)位單位】:清華大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位年份】:2004
【中圖分類】:TH117.2
【部分圖文】:

潤(rùn)滑膜厚度,粗糙度


圖 1-1 潤(rùn)滑膜厚度與粗糙度潤(rùn)滑是在接觸界面間同時(shí)存在流體潤(rùn)滑和微凸體接觸;旌蠞(rùn)滑的重要特征是伴隨著表面磨損,它以接觸疲為主要形式。在摩擦過(guò)程中,各種潤(rùn)滑膜的比例及分布,因此混合潤(rùn)滑具有強(qiáng)烈的時(shí)變性。外載荷由流體潤(rùn)滑同來(lái)承擔(dān),因而其中任一部分都不可忽略[26]。由于混合滑、薄膜潤(rùn)滑、微觀彈流潤(rùn)滑及流體動(dòng)壓潤(rùn)滑等潤(rùn)滑狀接觸表面上所占的比例和摩擦界面形態(tài)與工況條件密切膜厚度的實(shí)驗(yàn)研究膜厚度的測(cè)量方法

相對(duì)光強(qiáng)原理,光干涉


圖 2-1 光干涉相對(duì)光強(qiáng)原理圖的中心區(qū)域進(jìn)行分析,根據(jù)基本的光學(xué)干涉原理反射光強(qiáng)以及該點(diǎn)的潤(rùn)滑膜厚度有如下關(guān)系:)42arccos(12φλπ++nhII為待測(cè)膜厚點(diǎn)的光強(qiáng)、I2—分別為光束 1 和光束 2 的光強(qiáng) —潤(rùn)滑膜厚度 —單色光波長(zhǎng) —潤(rùn)滑劑折射率 —與玻璃盤、Cr 膜厚度以及接觸區(qū)彈性變形有膜時(shí)的相對(duì)光強(qiáng)0I 的反余弦,即 arccos()0φ =I。學(xué)可知,在同一干涉級(jí)次的最亮條紋與最暗條紋

潤(rùn)滑膜厚度,測(cè)量?jī)x,納米級(jí),光強(qiáng)


第 2 章 實(shí)驗(yàn)原理、實(shí)驗(yàn)設(shè)備及實(shí)驗(yàn)規(guī)范當(dāng)潤(rùn)滑膜厚度有可能超過(guò)一個(gè)干涉環(huán)的級(jí)次所能表示的膜厚范圍,對(duì)式2-3 進(jìn)行修正可得:πλφπλnmInh4[arccos()]4= +(2-4)其中, m 為光強(qiáng)的級(jí)次。最終可得到用最大光強(qiáng)和最小光強(qiáng)表示的潤(rùn)滑膜厚度:πλπλnmIIIIIIIIIInh4)]2)arccos(2[arccos(4maxmin0maxminmaxminmaxmin+ = (2-5)2.3 潤(rùn)滑膜厚度測(cè)量試驗(yàn)臺(tái)實(shí)驗(yàn)裝置簡(jiǎn)圖如圖 2-2 所示。
【引證文獻(xiàn)】

相關(guān)博士學(xué)位論文 前1條

1 吳昊;滾動(dòng)軸承動(dòng)特性及軸承—轉(zhuǎn)子系統(tǒng)動(dòng)力學(xué)模型研究[D];華東理工大學(xué);2011年


相關(guān)碩士學(xué)位論文 前2條

1 谷高磊;基于光干涉技術(shù)的薄膜潤(rùn)滑特性研究[D];大連海事大學(xué);2012年

2 王凱;基于接觸電阻法的潤(rùn)滑特性分析與研究[D];大連海事大學(xué);2012年



本文編號(hào):2864036

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