現(xiàn)如今,無處不在的嵌入式系統(tǒng)涵蓋了國防、家庭、商用、醫(yī)療等眾多領(lǐng)域,這些領(lǐng)域內(nèi)大多數(shù)產(chǎn)品中都包含了一個(gè)或多個(gè)嵌入式系統(tǒng),依靠單個(gè)嵌入式系統(tǒng)或多個(gè)嵌入式系統(tǒng)之間的合作去實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品功能。利用嵌入式系統(tǒng)的硬件接口可將測試用例注入被測嵌入式系統(tǒng),采用人工的方法對內(nèi)部軟件復(fù)雜、外部接口多樣的大型分布式系統(tǒng)進(jìn)行測試時(shí),無法保證測試覆蓋率,進(jìn)而導(dǎo)致產(chǎn)品存在隱患,影響產(chǎn)品的正常工作;同時(shí),由多個(gè)部件組成的復(fù)雜系統(tǒng),單個(gè)測試節(jié)點(diǎn)無法對其每個(gè)環(huán)節(jié)進(jìn)行完備的測試。針對上述問題,研制一種將測試用例通過硬件接口自動(dòng)注入被測嵌入式系統(tǒng),接收測試結(jié)果數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析的分布式嵌入式系統(tǒng)自動(dòng)化測試平臺具有重要意義。本課題來源于某科研項(xiàng)目,在對項(xiàng)目需求進(jìn)行分析之后,本文提出了嵌入式系統(tǒng)自動(dòng)化測試平臺總體設(shè)計(jì)方案。該嵌入式系統(tǒng)自動(dòng)化測試平臺采用分布式架構(gòu),利用實(shí)驗(yàn)室自研的H-JTP(HIT Joint Test Platform)聯(lián)合試驗(yàn)平臺的綜合集成能力,將本文開發(fā)的專用自動(dòng)化測試組件、通用硬件接口組件與硬件物理接口板卡進(jìn)行集成,形成分布式測試系統(tǒng)中的一個(gè)測試節(jié)點(diǎn),能夠?qū)y試信號或狀態(tài)信息注入被測嵌入式系統(tǒng)并接收返回的測試結(jié)果...

【文章頁數(shù)】：86 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖3-7測試用例生成組件配置界面圖

圖3-7測試用例生成組件配置界面圖圖3-8測試用例生成顯示界面圖置完成后，測試用例生成組件進(jìn)行自動(dòng)生成測試用例，完成生成例生成顯示界面如圖3-8所示，將顯示生成的所有測試用例。

圖3-8測試用例生成顯示界面圖

-21-圖3-8測試用例生成顯示界面圖完成后，測試用例生成組件進(jìn)行自動(dòng)生成測試用例，完成生成顯示界面如圖3-8所示，將顯示生成的所有測試用例比對模型組件開發(fā)比對模型是被測嵌入式系統(tǒng)的虛擬軟件模型，對真實(shí)的嵌析，模擬真實(shí)嵌入式系統(tǒng)的行為，將測試用例注入虛擬比模型將返回預(yù)....

圖3-19結(jié)果比對組件結(jié)論顯示面板

發(fā)布測試結(jié)論測試結(jié)論更新錯(cuò)誤結(jié)果標(biāo)記測試用例數(shù)據(jù)真實(shí)測試結(jié)果數(shù)據(jù)預(yù)期測試結(jié)果數(shù)據(jù)組合圖3-18比對結(jié)果結(jié)論顯示動(dòng)態(tài)序列圖所示，為結(jié)果比對組件的結(jié)論顯示面板，比對論；圖3-20為錯(cuò)誤數(shù)據(jù)顯示界面，當(dāng)有錯(cuò)誤例數(shù)據(jù)、預(yù)期結(jié)果數(shù)據(jù)與真實(shí)結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行組

圖3-20錯(cuò)誤數(shù)據(jù)顯示界面

圖3-20錯(cuò)誤數(shù)據(jù)顯示界面3.4本章小結(jié)本章在H-JTP聯(lián)合試驗(yàn)平臺中，對嵌入式系統(tǒng)自動(dòng)化測試平臺中專用自化測試組件部分的測試用例生成組件、虛擬比對模型組件、結(jié)果比對組件完了開發(fā)。其中測試用例生成組件在用戶對相關(guān)參數(shù)配置完成后可自動(dòng)生成測用例；虛擬比對組件首先對被測系統(tǒng)....

本文編號：4023292