目前，半導(dǎo)體存儲器（RAM）是應(yīng)用范圍最廣、使用數(shù)量巨大的集成電路。隨著電子設(shè)備的智能程度的提高和計算機通訊的飛速發(fā)展，促使半導(dǎo)體存儲器在品種、讀寫周期和容量上都發(fā)生了很大變化。為了確保半導(dǎo)體存儲器的質(zhì)量和研制開發(fā)符合系統(tǒng)的設(shè)計要求，在集成電路研制、生產(chǎn)和應(yīng)用等各個階段都要進行反復(fù)多次的檢驗和測試，并且需要對存儲器的故障進行診斷，以便對產(chǎn)品進行改進。 《GH3163半導(dǎo)體存儲器故障測試系統(tǒng)》是國家“八·五”重點科技攻關(guān)項目，已于1995年12月通過了國家技術(shù)鑒定。作者參加了該項任務(wù)，主持了測試系統(tǒng)軟件設(shè)計開發(fā)和部分硬件的研制工作，并以此為基礎(chǔ)設(shè)計實現(xiàn)了基于知識的《KBSM_Diag半導(dǎo)體存儲器診斷系統(tǒng)》，對半導(dǎo)體存儲器的故障進行了實驗性診斷。 本文簡要地介紹了存儲器測試系統(tǒng)的硬件的結(jié)構(gòu)和新一代的面向?qū)ο蟮木幊谭椒▽y試系統(tǒng)的設(shè)計與實現(xiàn)。由Derek Colreman等提出的合成方法的面向?qū)ο缶幊碳夹g(shù)發(fā)展了OMT／Rumbaugh，Booch，CRC和Objectory的最好的特性，并對面向?qū)ο蟮姆治�、設(shè)計和實現(xiàn)，提供了更直接的途徑。半導(dǎo)體存儲器測試系統(tǒng)采... 

【文章來源】：中國科學(xué)院大學(xué)(中國科學(xué)院計算技術(shù)研究所)北京市

【文章頁數(shù)】：130 頁

【學(xué)位級別】：博士

【文章目錄】：
致謝
摘要
ABSTRACT
目錄
第1章 引言
    1.1 測試技術(shù)的發(fā)展概況
    1.2 測試算法的選擇和評價
    1.3 半導(dǎo)體存儲器故障診斷的工具
    1.4 本文的安排
第2章 半導(dǎo)體存儲器測試系統(tǒng)描述
    2.1 半導(dǎo)體存儲器測試分類及測試內(nèi)容
        2.1.1 按目的測試分類
        2.1.2 按性能測試分類
    2.2 半導(dǎo)體存儲器測試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)
        2.2.1 存儲器測試系統(tǒng)硬件的基本組成
        2.2.2 存儲器測試系統(tǒng)流水線結(jié)構(gòu)
        2.2.3 存儲器測試系統(tǒng)工作過程
    2.3 基于合成方法的半導(dǎo)體存儲器測試系統(tǒng)軟件設(shè)計與實現(xiàn)
        2.3.1 存儲器測試系統(tǒng)軟件的系統(tǒng)分析
        2.3.2 存儲器測試系統(tǒng)軟件的系統(tǒng)設(shè)計
        2.3.3 存儲器測試系統(tǒng)軟件的系統(tǒng)實現(xiàn)
第3章 半導(dǎo)體存儲器故障類型的分析
    3.1 半導(dǎo)體存儲器的分類與性能指標(biāo)
        3.1.1 半導(dǎo)體存儲器的分類
        3.1.2 半導(dǎo)體存儲器的性能指標(biāo)
    3.2 半導(dǎo)體存儲器的基本組成和結(jié)構(gòu)
    3.3 半導(dǎo)體存儲器產(chǎn)生故障原因的分析
        3.3.1 半導(dǎo)體存儲器硬失效（故障）的分析
        3.3.2 半導(dǎo)體存儲器軟失效（故障）的分析
    3.4 半導(dǎo)體存儲器的故障模型
第4章 半導(dǎo)體存儲器測試算法的研究
    4.1 測試算法的故障覆蓋幾率的定義
    4.2 常用測試算法故障覆蓋幾率的計算
        4.2.1 全位“1”和全位“0”的分析
        4.2.2 檢驗板法的分析
        4.2.3 齊步法的分析
        4.2.4 跳步法的分析
        4.2.5 乒乓法的分析
        4.2.6 走步法的分析
        4.2.7 移動對角線法的分析
    4.3 本章小節(jié)
第5章 基于知識診斷的概念體系
    5.1 基于知識的診斷概述
    5.2 診斷推理的概念體系
        5.2.1 診斷對象性質(zhì)與分類
        5.2.2 診斷問題的基本概念
        5.2.3 系統(tǒng)故障的分類
        5.2.4 診斷問題的形式化定義
    5.3 基于知識診斷推理策略
Diag診斷系統(tǒng)的實現(xiàn)">第6章 KBSM_Diag診斷系統(tǒng)的實現(xiàn)
    6.1 半導(dǎo)體存儲器故障診斷的基本內(nèi)容、過程與特點
        6.1.1 半導(dǎo)體存儲器故障診斷的基本內(nèi)容與過程
        6.1.2 半導(dǎo)體存儲器故障診斷的特點
Diag半導(dǎo)體存儲器故障診斷推理策略">    6.2 KBSM_Diag半導(dǎo)體存儲器故障診斷推理策略
Diag診斷系統(tǒng)模型的描述">    6.3 KBSM_Diag診斷系統(tǒng)模型的描述
Diag診斷系統(tǒng)模型的概述">        6.3.1 KBSM_Diag診斷系統(tǒng)模型的概述
        6.3.2 任務(wù)管理模塊（TM）的實現(xiàn)
Diag診斷系統(tǒng)的功能">    6.4 KBSM_Diag診斷系統(tǒng)的功能
Diag診斷系統(tǒng)的系統(tǒng)設(shè)計">    6.5 KBSM_Diag診斷系統(tǒng)的系統(tǒng)設(shè)計
    6.6 運行過程
    6.7 診斷結(jié)果
    6.8 本章小結(jié)
第7章 結(jié)束語
    7.1 本文的主要工作
    7.2 今后的工作
參考文獻
作者簡歷及攻讀博士期間已發(fā)表文章


【參考文獻】：
期刊論文
[1]LSI測試系統(tǒng)的圖形發(fā)生器[J]. 郭志先,孫祖希,宋奎元.  計算機研究與發(fā)展. 1984(12)
[2]半導(dǎo)體隨機存儲器測試儀[J]. 郭志先,宋奎元.  電子計算機動態(tài). 1978(03)



本文編號：3161529