【摘要】： 快閃存儲器(閃存)作為一種隨著微電子工業(yè)的高速發(fā)展而誕生的新興的半導(dǎo)體存儲器件，以其獨有的非易失性，高密度，，低成本等特點，逐漸取代了ROM／EPROM／EEPROM，在近幾年中得到了迅猛的發(fā)展。尤其是串行閃存(Serial Flash)，因其具有較少的數(shù)據(jù)引腳，簡單的外圍電路構(gòu)建，使其更為人們所常用。 但是，由于閃存自身的存儲架構(gòu)原因，當(dāng)對閃存寫時，數(shù)據(jù)由1變?yōu)?，變?yōu)?后，不能通過寫再變?yōu)?。當(dāng)對閃存擦除時，數(shù)據(jù)由0變?yōu)?，不能只某位單元進(jìn)行擦除。當(dāng)其數(shù)據(jù)的擦除和改寫時，只能以塊為最小單位進(jìn)行操作，閃存的擦除包括塊擦除和芯片擦除。塊擦除是把某一擦除塊的內(nèi)容都變?yōu)?，芯片擦除是把整個閃存的內(nèi)容都變?yōu)?。通常一個閃存存儲器芯片，分為若干個擦除塊，在進(jìn)行閃存存儲時，以擦除塊為單位。且其具有10萬—100萬次的讀寫壽命。閃存的這些特性都有別于其他的存儲器件。 所以，本課題針對于閃存的這些特性，對閃存(串行)在數(shù)據(jù)的存儲應(yīng)用接口的設(shè)計和數(shù)據(jù)文件的管理方面作了相應(yīng)的研究和思考，主要就客戶／生產(chǎn)廠商在應(yīng)用串行閃存的過程中所遇到的具體實際問題出發(fā)，如數(shù)據(jù)的丟失，指令的誤操作，CRC校驗錯誤等，設(shè)計和編制了一個基于NI公司的LabWindows／CVI平臺的針對M25系列串行閃存的數(shù)據(jù)診斷分析工具，以便于客戶的有效和便捷使用。且試驗證明該工具簡單實用。
【圖文】：

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【學(xué)位授予單位】：南京理工大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2007
【分類號】：TP333

【引證文獻(xiàn)】

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前1條

1 吳麗娟;基于串行閃存的數(shù)據(jù)采集存儲系統(tǒng)的研究[D];中北大學(xué);2010年

本文編號：2595432