基于激光實(shí)驗(yàn)探測(cè)32位微處理器的敏感體深度
本文選題:微處理器 + 敏感體深度 ; 參考:《微電子學(xué)與計(jì)算機(jī)》2015年06期
【摘要】:為了更好地設(shè)置不同錯(cuò)誤率預(yù)估模型的參數(shù)以及為抗輻射加固設(shè)計(jì)提供指導(dǎo),以微處理器為例,針對(duì)敏感體深度這一參數(shù)進(jìn)行了探測(cè).利用脈沖激光局域輻照以及聚焦深度可調(diào)的優(yōu)勢(shì)對(duì)180nm體硅CMOS工藝的32位微處理器的緩存(cache)區(qū)域、寄存器堆(regfile)區(qū)域以及組合邏輯區(qū)域進(jìn)行了敏感體深度的探測(cè),結(jié)果表明,在同一工藝下的不同功能敏感區(qū)域內(nèi),其敏感體深度基本一致,均為1μm左右.這一方法能夠準(zhǔn)確、方便、快速地獲取器件的敏感參數(shù),為更好地對(duì)器件進(jìn)行錯(cuò)誤率預(yù)估提供參考.
[Abstract]:In order to better set the parameters of different error rate prediction models and to provide guidance for the design of anti-radiation reinforcement, the sensitive body depth is detected by a microprocessor as an example. Based on the advantages of pulse laser local irradiation and the adjustable focusing depth, the sensitive volume depth of 32 bit microprocessors in 180nm bulk silicon CMOS process, the register stack regfileregion and the combinational logic region are detected. In the same process, the sensitive body depth is about 1 渭 m in different functional sensitive areas. This method can accurately, conveniently and quickly obtain the sensitive parameters of the device, and provide a reference for better error rate prediction of the device.
【作者單位】: 北京微電子技術(shù)研究所;
【分類(lèi)號(hào)】:TP332;TN249
【參考文獻(xiàn)】
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【共引文獻(xiàn)】
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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】
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