鋯錫合金具有優(yōu)異的核性能,被廣泛應(yīng)用于核工業(yè)領(lǐng)域,其中的雜質(zhì)元素含量通�？刂圃诤艿退健ｋ姼旭詈系入x子體質(zhì)譜（ICP-MS）是一種可進(jìn)行多元素同時(shí)分析的無(wú)機(jī)質(zhì)譜技術(shù),已普遍應(yīng)用于冶金分析領(lǐng)域。ICP-MS具有圖譜簡(jiǎn)單、靈敏度高等優(yōu)點(diǎn),但也不可避免地存在質(zhì)譜干擾問(wèn)題,需要用其他輔助手段予以解決。ICP-MS測(cè)定鋯錫合金中Cd含量時(shí)其所有同位素均被Zr和Sn的多原子離子或同質(zhì)異位素干擾,需要進(jìn)行基體分離。建立了ICP-MS測(cè)定鋯錫合金中Cd, Al, B, Mg等11種痕量雜質(zhì)元素含量的方法,其中Cd, Mg等6種元素經(jīng)微型陽(yáng)離子交換柱分離富集后測(cè)定,同時(shí)采用干擾校正方程校正了¹¹³In對(duì)¹¹³Cd的潛在干擾;其他雜質(zhì)元素離子不經(jīng)分離直接采用內(nèi)標(biāo)法測(cè)定。在稀氫氟酸介質(zhì)中, Cd²⁺等雜質(zhì)離子被吸附在陽(yáng)離子交換柱上,而Zr則形成絡(luò)陰離子不被吸附,雜質(zhì)元素與基體元素Zr分離并獲得富集。雜質(zhì)離子以鹽酸洗脫后用ICP-MS檢測(cè),消除了測(cè)定Cd時(shí)Zr基體對(duì)其產(chǎn)生的干擾。主要研究了Cd元素與Zr基體的分離條件,包括上柱酸度、淋洗酸度、洗... 

【文章來(lái)源】：光譜學(xué)與光譜分析. 2020,40(08)北大核心EISCICSCD

【文章頁(yè)數(shù)】：7 頁(yè)

【文章目錄】：
引 言
1 實(shí)驗(yàn)部分
    1.1 儀器及工作參數(shù)
    1.2 材料與試劑
    1.3 方法
        1.3.1 樣品處理
        1.3.2 裝柱
        1.3.3 基體分離
2 結(jié)果與討論
    2.1 基體干擾
        2.1.1 質(zhì)譜干擾
        2.1.2 基體干擾強(qiáng)度
    2.2 離子交換條件的選擇
        2.2.1 上柱酸度
        2.2.2 淋洗酸度
        2.2.3 洗脫酸度
        2.2.4 流速
        2.2.5 進(jìn)樣濃度
    2.3 檢測(cè)同位素和內(nèi)標(biāo)元素的選擇
    2.4 方法檢出限和定量限
    2.5 方法精密度和加標(biāo)回收率
3 結(jié) 論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號(hào)：3630716