壓力機(jī)滑塊垂直度的自適應(yīng)評價方法
發(fā)布時間:2022-01-25 08:53
壓力機(jī)滑塊垂直度評價結(jié)果會受儀器安裝位姿影響,提出了一種直紋面幾何模型用于描述壓力機(jī)滑塊在導(dǎo)軌間的誤差運(yùn)動,定義球面像誤差和直線度誤差去描述離散直線誤差運(yùn)動的位移和方向誤差范圍。通過優(yōu)化自適應(yīng)得到運(yùn)動坐標(biāo)系上最小直線度誤差和最小球面像誤差矢量。最小球面像誤差矢量和最小直線度誤差矢量是直線誤差運(yùn)動直紋面幾何模型的不變量,采用直紋面幾何不變量作為壓力機(jī)滑塊垂直度精度的評價指標(biāo),可排除儀器安裝位姿對滑塊垂直度評價結(jié)果的影響。通過6D激光干涉儀測量得到滑塊誤差運(yùn)動的五自由度參數(shù),優(yōu)化得到?jīng)_壓機(jī)滑塊最小球面像誤差為0.033 25 rad,最小直線度誤差為0.022 206 mm。
【文章來源】:機(jī)械設(shè)計與研究. 2020,36(05)北大核心CSCD
【文章頁數(shù)】:6 頁
【部分圖文】:
剛體運(yùn)動坐標(biāo)系
如圖2所示,滑塊沿導(dǎo)軌移動在t0、t1、…、ti瞬時時刻,所有時刻的lm的誤差運(yùn)動軌跡形成直紋面ΣLf,每個瞬時的矢量lm是直紋面的直母線。矢量lm軌跡形成的直紋面為ΣLf, 可表示為
1.2 壓力機(jī)滑塊誤差運(yùn)動測量滑塊五自由度誤差運(yùn)動參數(shù)可采用XD激光干涉儀進(jìn)行測量。儀器線性測量精度0.5 ppm,直線度測量精度1.0 μm+0.2/行程(m),角度分辨率0.1°,角度測量精度±1.0°+0.1°/行程(m)。將XD激光干涉儀測試儀安裝在壓力機(jī)上,如圖3所示。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]回轉(zhuǎn)副測量安裝位姿不確定性影響分析與評價[J]. 向明,王智,王德倫,吳南星. 天津大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)與工程技術(shù)版). 2018(11)
[2]大長度激光測量中阿貝誤差消除方法的研究[J]. 繆東晶,李建雙,李連福,赫明釗,鄧向瑞,蔣遠(yuǎn)林,康瑤,張京燕. 計量學(xué)報. 2015 (06)
[3]基于阿貝誤差補(bǔ)償光路的水準(zhǔn)標(biāo)尺檢定裝置及不確定度分析[J]. 李文一,程增杰. 中國測試. 2015(10)
[4]基于激光干涉儀的垂直軸宏微復(fù)合平臺直線度測量及誤差分析[J]. 趙榮麗,陳新,李克天. 機(jī)械設(shè)計與研究. 2015(03)
[5]零阿貝誤差的納米三坐標(biāo)測量機(jī)工作臺及誤差分析[J]. 黃強(qiáng)先,余夫領(lǐng),宮二敏,王晨晨,費(fèi)業(yè)泰. 光學(xué)精密工程. 2013(03)
[6]精密配合孔軸線直線度誤差評定[J]. 梁勝龍. 機(jī)械設(shè)計與研究. 2009(03)
本文編號:3608248
【文章來源】:機(jī)械設(shè)計與研究. 2020,36(05)北大核心CSCD
【文章頁數(shù)】:6 頁
【部分圖文】:
剛體運(yùn)動坐標(biāo)系
如圖2所示,滑塊沿導(dǎo)軌移動在t0、t1、…、ti瞬時時刻,所有時刻的lm的誤差運(yùn)動軌跡形成直紋面ΣLf,每個瞬時的矢量lm是直紋面的直母線。矢量lm軌跡形成的直紋面為ΣLf, 可表示為
1.2 壓力機(jī)滑塊誤差運(yùn)動測量滑塊五自由度誤差運(yùn)動參數(shù)可采用XD激光干涉儀進(jìn)行測量。儀器線性測量精度0.5 ppm,直線度測量精度1.0 μm+0.2/行程(m),角度分辨率0.1°,角度測量精度±1.0°+0.1°/行程(m)。將XD激光干涉儀測試儀安裝在壓力機(jī)上,如圖3所示。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]回轉(zhuǎn)副測量安裝位姿不確定性影響分析與評價[J]. 向明,王智,王德倫,吳南星. 天津大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)與工程技術(shù)版). 2018(11)
[2]大長度激光測量中阿貝誤差消除方法的研究[J]. 繆東晶,李建雙,李連福,赫明釗,鄧向瑞,蔣遠(yuǎn)林,康瑤,張京燕. 計量學(xué)報. 2015 (06)
[3]基于阿貝誤差補(bǔ)償光路的水準(zhǔn)標(biāo)尺檢定裝置及不確定度分析[J]. 李文一,程增杰. 中國測試. 2015(10)
[4]基于激光干涉儀的垂直軸宏微復(fù)合平臺直線度測量及誤差分析[J]. 趙榮麗,陳新,李克天. 機(jī)械設(shè)計與研究. 2015(03)
[5]零阿貝誤差的納米三坐標(biāo)測量機(jī)工作臺及誤差分析[J]. 黃強(qiáng)先,余夫領(lǐng),宮二敏,王晨晨,費(fèi)業(yè)泰. 光學(xué)精密工程. 2013(03)
[6]精密配合孔軸線直線度誤差評定[J]. 梁勝龍. 機(jī)械設(shè)計與研究. 2009(03)
本文編號:3608248
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