Sb、Ce、Nd復(fù)合變質(zhì)對(duì)Mg-4Si合金組織和性能的影響
發(fā)布時(shí)間:2021-12-02 07:30
鎂硅系合金由于在晶界處引入了Mg2Si相,同時(shí)Mg2Si相具有低密度(1.99×103 Kg/m3),高彈性模量(120 GPa),高熔點(diǎn)(1085℃),高硬度(4500 MN/m2)等優(yōu)點(diǎn),增強(qiáng)了合金的力學(xué)性能。然而以普通的鑄造方式制備的Mg-Si合金中的Mg2Si在基體中呈現(xiàn)為粗糙的樹(shù)枝晶和漢字狀形貌,其鋒利的邊角在和基體接觸時(shí)會(huì)產(chǎn)生應(yīng)力集中,導(dǎo)致內(nèi)部裂紋的生成,降低合金的力學(xué)性能,因此,改善鑄造過(guò)程中的生成的Mg2Si的形貌是提高合金力學(xué)性能的有效途徑。近些年來(lái)已經(jīng)有非常多的國(guó)內(nèi)外學(xué)者研發(fā)出了改善Mg2Si形貌的方法,其中有快速凝固技術(shù),離心鑄造技術(shù),熱擠壓技術(shù),定向凝固,固相反應(yīng)合成法等,但是這些方法操作困難,工藝過(guò)程復(fù)雜并且難以控制,最重要的是對(duì)合金中Mg2Si的形貌改善并不明顯,需要進(jìn)一步改善工藝方法。變質(zhì)處理是在熔煉過(guò)程中加入變質(zhì)劑,通過(guò)變質(zhì)劑改變Mg2S...
【文章來(lái)源】:西南大學(xué)重慶市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁(yè)數(shù)】:79 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
實(shí)驗(yàn)技術(shù)路線圖
西南大學(xué)碩士學(xué)位論文14拉伸式樣的斷口形貌,型號(hào)為JSM-6610,Japan用能譜儀(EDS,OxfordINCAX-max)結(jié)合掃描電鏡分析合金中增強(qiáng)相的元素分布。2.3.4透射電鏡分析通過(guò)透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope)來(lái)分析復(fù)合變質(zhì)后初生Mg2Si顆粒上的核心相,型號(hào)為TitanG260-300,用透射電鏡的能譜分析Mg2Si相的核心處的元素分布,用透射電鏡的選區(qū)電子衍射(SelectiveElectronDiffraction)分析確定核心處的物相,透射電鏡的式樣通過(guò)聚焦離子束(FIB)切割得到。2.4性能測(cè)試2.4.1布氏硬度測(cè)試合金試樣的布氏硬度(Brinellhardness)測(cè)試在HBE-D3000A自動(dòng)測(cè)量布氏硬度計(jì)上進(jìn)行,為了測(cè)量準(zhǔn)確,在試樣一條直線上的五個(gè)點(diǎn)取值,然后取其硬度平均值。2.4.2拉伸實(shí)驗(yàn)通過(guò)拉伸試驗(yàn)測(cè)試合金的極限拉伸強(qiáng)度和延伸率,根據(jù)國(guó)標(biāo)設(shè)計(jì)和制作了拉伸實(shí)驗(yàn)的式樣,如圖2.1所示,通過(guò)電火花線切割制備實(shí)驗(yàn)合金的拉伸式樣。式樣在拉伸前用砂紙拋光,去除加工過(guò)程中產(chǎn)生的表層雜質(zhì),每組樣品測(cè)試三個(gè),取其平均值。用型號(hào)為WDW3050的電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)測(cè)試試樣的極限拉伸強(qiáng)度,根據(jù)式樣拉伸前后的標(biāo)距的變化計(jì)算延伸率,拉伸速度為1mm/min。圖2.1拉伸式樣的尺寸Figure2.1Thedimensionsofthestretchpattern
西南大學(xué)碩士學(xué)位論文 邊形,這是出現(xiàn)了過(guò)變質(zhì)效果。因此,當(dāng) Sb 變質(zhì) Mg-4Si 合金時(shí),加入 1.0wt.% Sb 可以使變質(zhì)效果達(dá)到最佳,但是變質(zhì)效果不夠完善,在基體中同時(shí)分布有大顆粒和小顆粒,所以要通過(guò)復(fù)合變質(zhì)來(lái)進(jìn)一步改善初生 Mg2Si 顆粒的形貌。
本文編號(hào):3527992
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實(shí)驗(yàn)技術(shù)路線圖
西南大學(xué)碩士學(xué)位論文14拉伸式樣的斷口形貌,型號(hào)為JSM-6610,Japan用能譜儀(EDS,OxfordINCAX-max)結(jié)合掃描電鏡分析合金中增強(qiáng)相的元素分布。2.3.4透射電鏡分析通過(guò)透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope)來(lái)分析復(fù)合變質(zhì)后初生Mg2Si顆粒上的核心相,型號(hào)為TitanG260-300,用透射電鏡的能譜分析Mg2Si相的核心處的元素分布,用透射電鏡的選區(qū)電子衍射(SelectiveElectronDiffraction)分析確定核心處的物相,透射電鏡的式樣通過(guò)聚焦離子束(FIB)切割得到。2.4性能測(cè)試2.4.1布氏硬度測(cè)試合金試樣的布氏硬度(Brinellhardness)測(cè)試在HBE-D3000A自動(dòng)測(cè)量布氏硬度計(jì)上進(jìn)行,為了測(cè)量準(zhǔn)確,在試樣一條直線上的五個(gè)點(diǎn)取值,然后取其硬度平均值。2.4.2拉伸實(shí)驗(yàn)通過(guò)拉伸試驗(yàn)測(cè)試合金的極限拉伸強(qiáng)度和延伸率,根據(jù)國(guó)標(biāo)設(shè)計(jì)和制作了拉伸實(shí)驗(yàn)的式樣,如圖2.1所示,通過(guò)電火花線切割制備實(shí)驗(yàn)合金的拉伸式樣。式樣在拉伸前用砂紙拋光,去除加工過(guò)程中產(chǎn)生的表層雜質(zhì),每組樣品測(cè)試三個(gè),取其平均值。用型號(hào)為WDW3050的電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)測(cè)試試樣的極限拉伸強(qiáng)度,根據(jù)式樣拉伸前后的標(biāo)距的變化計(jì)算延伸率,拉伸速度為1mm/min。圖2.1拉伸式樣的尺寸Figure2.1Thedimensionsofthestretchpattern
西南大學(xué)碩士學(xué)位論文 邊形,這是出現(xiàn)了過(guò)變質(zhì)效果。因此,當(dāng) Sb 變質(zhì) Mg-4Si 合金時(shí),加入 1.0wt.% Sb 可以使變質(zhì)效果達(dá)到最佳,但是變質(zhì)效果不夠完善,在基體中同時(shí)分布有大顆粒和小顆粒,所以要通過(guò)復(fù)合變質(zhì)來(lái)進(jìn)一步改善初生 Mg2Si 顆粒的形貌。
本文編號(hào):3527992
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