隨著國(guó)際聚變堆項(xiàng)目的發(fā)展,核結(jié)構(gòu)材料的輻照損傷研究受到了越來越廣泛的關(guān)注。釩合金由于具有優(yōu)異的低活化特性、良好的高溫強(qiáng)度和抗中子輻照等性能,被認(rèn)為是目前非常具有應(yīng)用前景的聚變堆候選結(jié)構(gòu)材料。研究釩合金輻照損傷的微觀結(jié)構(gòu),對(duì)分析輻照引起的釩合金宏觀力學(xué)性能的變化、理解釩合金輻照損傷的機(jī)理以及開發(fā)新型的釩合金材料都具有非常重要的意義。本文采用He離子在室溫下對(duì)V-4Cr-4Ti和V-5Cr-5Ti合金進(jìn)行輻照,通過透射電子顯微鏡對(duì)材料輻照后的微觀結(jié)構(gòu)如位錯(cuò)和氦泡等進(jìn)行觀察和表征,并利用會(huì)聚束電子衍射技術(shù)和電子能量損失譜技術(shù)對(duì)樣品厚度進(jìn)行測(cè)量。研究發(fā)現(xiàn):利用會(huì)聚束電子衍射技術(shù)所測(cè)樣品的消光距離與考慮了偏離矢量值的有效消光距離相匹配,而且通過建模分析可知,輻照過程中引入的He離子對(duì)消光距離不產(chǎn)生影響。CBED技術(shù)測(cè)量樣品厚度具有更高的準(zhǔn)確性;與CBED技術(shù)厚度測(cè)量結(jié)果相比,EELS技術(shù)測(cè)得的樣品厚度偏大,可能與聚焦離子束制備透射電鏡樣品過程中引入的非晶層有關(guān)。對(duì)輻照前后的釩合金微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征發(fā)現(xiàn),輻照后釩合金樣品中存在大量的氦泡和位錯(cuò)。兩種釩合金中氦泡的尺寸和體密度均隨輻照離位損傷的增加而增... 

【文章來源】：北京有色金屬研究總院北京市

【文章頁數(shù)】：52 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖１．２?ＩＴＥＲ裝置示意圖??

圖１．３?Ｖ－ｘＣｒ－ｙＴｉ三系合金在不同退火溫度下ＤＢＴＴ與Ｃｒ＋Ｔｉ?（Ｗｔ％）的關(guān)系??

人們需要的材料。但是對(duì)于某些特殊材料來說，雜質(zhì)原子的引入只會(huì)起到降低其性能??的目的，這時(shí)研宄材料的輻照效應(yīng)通常采用自離子輻照的方法［９］。因此材料在受到粒??子輻照時(shí)主要會(huì)產(chǎn)生三種最基本的點(diǎn)缺陷：間隙原子、空位和雜質(zhì)原子，如圖１．４所??示［叫。??６??


本文編號(hào)：3108677