溫度對體心立方鉬中位錯行為影響的原位透射電鏡研究
發(fā)布時間:2021-03-25 16:23
本文通過原位透射電鏡下的拉伸試驗,在不同溫度下研究了具有室溫韌脆轉變行為的體心立方鉬中的位錯行為。結果表明,室溫下鉬的變形過程中主要以刃位錯和混合位錯的運動為主,位錯運動受扭結對機制控制,存在大量刃位錯的快速運動和螺位錯交滑移行為,位錯運動情況復雜。低溫下,刃位錯運動被抑制,螺位錯運動為主導變形行為。螺位錯以長直形態(tài)存在,以非連續(xù)跳躍方式運動。這種低溫下活躍的螺位錯行為以及溫度與位錯行為變化的關系尚無法用傳統(tǒng)熱激活理論解釋,聲子拖拽機制或變?yōu)槲诲e運動的激活機制。
【文章來源】:電子顯微學報. 2020,39(04)北大核心CSCD
【文章頁數】:7 頁
【部分圖文】:
室溫下位錯運動形態(tài)。
圖1 室溫下位錯運動形態(tài)。另外,低溫下,位錯的運動方式由室溫下的連續(xù)滑移轉變?yōu)樘S式滑移。從圖3b中可見,由于透射電鏡中CCD相機捕捉畫面有短暫延遲,8 s時的位錯1在跳躍前進過程中被捕捉到兩個圖像,顯示了該位錯單次跳躍前進的過程。圖3(d~f)是該溫度下位錯的g·b分析結果。圖3d為[111]正帶軸下圖像,記錄了伯氏矢量為 a 2 [ 1 ˉ 11] 及 a 2 [1 1 ˉ 1] 的兩組位錯形態(tài),而圖3(e,f)記錄了不同消光條件下兩組位錯的消光圖像。
另外,低溫下,位錯的運動方式由室溫下的連續(xù)滑移轉變?yōu)樘S式滑移。從圖3b中可見,由于透射電鏡中CCD相機捕捉畫面有短暫延遲,8 s時的位錯1在跳躍前進過程中被捕捉到兩個圖像,顯示了該位錯單次跳躍前進的過程。圖3(d~f)是該溫度下位錯的g·b分析結果。圖3d為[111]正帶軸下圖像,記錄了伯氏矢量為 a 2 [ 1 ˉ 11] 及 a 2 [1 1 ˉ 1] 的兩組位錯形態(tài),而圖3(e,f)記錄了不同消光條件下兩組位錯的消光圖像。3 討論
【參考文獻】:
期刊論文
[1]TWIP高熵合金中塑性變形機理的原位電鏡研究[J]. 符曉倩,余倩,張澤. 電子顯微學報. 2019(05)
[2]體心立方金屬Mo納米線拉伸塑性行為的原位透射電子顯微鏡觀察[J]. 盧艷,王立華,鄧青松,胡忠武,肖禮容,向思思,張澤,韓曉東. 電子顯微學報. 2014(04)
本文編號:3099961
【文章來源】:電子顯微學報. 2020,39(04)北大核心CSCD
【文章頁數】:7 頁
【部分圖文】:
室溫下位錯運動形態(tài)。
圖1 室溫下位錯運動形態(tài)。另外,低溫下,位錯的運動方式由室溫下的連續(xù)滑移轉變?yōu)樘S式滑移。從圖3b中可見,由于透射電鏡中CCD相機捕捉畫面有短暫延遲,8 s時的位錯1在跳躍前進過程中被捕捉到兩個圖像,顯示了該位錯單次跳躍前進的過程。圖3(d~f)是該溫度下位錯的g·b分析結果。圖3d為[111]正帶軸下圖像,記錄了伯氏矢量為 a 2 [ 1 ˉ 11] 及 a 2 [1 1 ˉ 1] 的兩組位錯形態(tài),而圖3(e,f)記錄了不同消光條件下兩組位錯的消光圖像。
另外,低溫下,位錯的運動方式由室溫下的連續(xù)滑移轉變?yōu)樘S式滑移。從圖3b中可見,由于透射電鏡中CCD相機捕捉畫面有短暫延遲,8 s時的位錯1在跳躍前進過程中被捕捉到兩個圖像,顯示了該位錯單次跳躍前進的過程。圖3(d~f)是該溫度下位錯的g·b分析結果。圖3d為[111]正帶軸下圖像,記錄了伯氏矢量為 a 2 [ 1 ˉ 11] 及 a 2 [1 1 ˉ 1] 的兩組位錯形態(tài),而圖3(e,f)記錄了不同消光條件下兩組位錯的消光圖像。3 討論
【參考文獻】:
期刊論文
[1]TWIP高熵合金中塑性變形機理的原位電鏡研究[J]. 符曉倩,余倩,張澤. 電子顯微學報. 2019(05)
[2]體心立方金屬Mo納米線拉伸塑性行為的原位透射電子顯微鏡觀察[J]. 盧艷,王立華,鄧青松,胡忠武,肖禮容,向思思,張澤,韓曉東. 電子顯微學報. 2014(04)
本文編號:3099961
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