本文選題：BIXS + 氚分析��； 參考：《核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù)》2015年07期

【摘要】：BIXS方法是近年來(lái)發(fā)展起來(lái)的一種無(wú)損氚分析方法,其中很多關(guān)鍵參數(shù)的影響以及選擇需要進(jìn)一步的研究。本文通過(guò)蒙特卡羅模擬結(jié)合實(shí)驗(yàn)分析,細(xì)致研究了BIXS方法中相關(guān)參數(shù)的影響以及相應(yīng)的確定方法,包括源距的設(shè)定、測(cè)量時(shí)間的影響和確定、反演程序的選擇以及反演參數(shù)的設(shè)定,為BIXS方法中參數(shù)的選擇提供了依據(jù)和方向。
[Abstract]:BIXS method is a nondestructive tritium analysis method developed in recent years. The influence and selection of many key parameters need further study. Through Monte Carlo simulation and experimental analysis, the influence of relevant parameters in the BIXS method and the corresponding determination methods are studied in detail, including the setting of source distance, the influence and determination of measuring time. The selection of inversion program and the setting of inversion parameters provide the basis and direction for the selection of parameters in the BIXS method.
【作者單位】： 中國(guó)工程物理研究院核物理與化學(xué)研究所;重慶大學(xué);
【分類(lèi)號(hào)】：TG115.28;O613.2
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本文編號(hào)：2102108