本文選題：超聲衍射時(shí)差法　切入點(diǎn)：雜波抑制　出處：《焊接學(xué)報(bào)》2015年10期

【摘要】：超聲TOFD(time of flight diffraction,衍射時(shí)差)法檢測(cè)的D掃描圖像中,作為背景雜波的側(cè)向波與近表面缺陷波會(huì)發(fā)生混疊,致使近表面缺陷不易于檢測(cè).針對(duì)這一問(wèn)題,提出一種基于雜波抑制的缺陷檢測(cè)方法.該方法通過(guò)圖像能量分布統(tǒng)計(jì),確定背景雜波分量并予以去除,從而分離出與其混疊的缺陷信號(hào),實(shí)現(xiàn)近表面缺陷的檢測(cè).建立了的超聲TOFD法檢測(cè)信號(hào)的數(shù)學(xué)模型,闡明了基于圖像能量分布的雜波抑制原理.制作了人工缺陷試塊及實(shí)際焊縫試塊,并對(duì)其檢測(cè)獲取的圖像進(jìn)行了雜波抑制處理.結(jié)果表明,提出的方法可有效去除圖像中的非缺陷目標(biāo)、提取近表面缺陷波,從而提高系統(tǒng)的有效檢測(cè)范圍.
[Abstract]:In the D-scan images detected by TOFD(time of flight diffraction, the lateral wave and the near-surface defect wave, which are background clutter, will be overlapped, which makes the near-surface defect difficult to detect. A defect detection method based on clutter suppression is proposed. The background clutter component is determined and removed by image energy distribution statistics, so that the aliasing defect signal can be separated. The mathematical model of ultrasonic TOFD method for signal detection is established, and the principle of clutter suppression based on image energy distribution is expounded. The results show that the proposed method can effectively remove the non-defect target in the image and extract the near-surface defect wave, so as to improve the effective detection range of the system.
【作者單位】： 哈爾濱工業(yè)大學(xué)先進(jìn)焊接與連接國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(51375002,51005056) 黑龍江省博士后科研啟動(dòng)基金資助項(xiàng)目(LBH-Q13079)
【分類(lèi)號(hào)】：TG115.285

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1689678