沖擊波超壓測試技術(shù)是爆炸動力學(xué)、沖擊動力學(xué)研究領(lǐng)域的重要內(nèi)容,也是兵器戰(zhàn)斗部技術(shù)中確定其殺傷威力的基本方法。沖擊波超壓存儲測試裝置及惡劣環(huán)境下的工作性能是目前研究的熱點,論文據(jù)此開展了一種沖擊波超壓存儲測試裝置設(shè)計及其爆炸環(huán)境下的干擾抑制方法研究。分析了沖擊波作用時間、超壓幅值、上升時間及沖擊波在地面的傳播特性,確定了存儲測試裝置的最大記錄時間、量程、裝置的帶寬及最高采樣頻率等性能參數(shù)；研究了低噪聲同軸電纜長度對沖擊波超壓測試的影響。實驗對比分析了兩種壓電式壓力傳感器在熱沖擊下的輸出特性以及受到振動后的響應(yīng)特性,得出在沖擊波存儲測試中高阻電荷輸出比ICP傳感器對環(huán)境因素的干擾抑制更好；分析了傳感器安裝方式及安裝剛度對測試的影響。選用603B傳感器作為沖擊波超壓測試用傳感器,采用N溝道MOS型場效應(yīng)管設(shè)計了前置電壓放大電路,實現(xiàn)了阻抗變換；采用OP270設(shè)計了放大濾波電路,實現(xiàn)了放大倍數(shù)轉(zhuǎn)換及低通濾波；設(shè)計了基于EP2C5Q208C8N的主控模塊、AD9223的A/D采集模塊、HY57V641620FTP-7的存儲模塊和基于FT245RL的USB數(shù)據(jù)傳輸接口�；赩erilog語言進行了...

【文章頁數(shù)】：68 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
1 緒論
    1.1 課題研究背景及意義
    1.2 國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀
        1.2.1 沖擊波測試技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀
        1.2.2 沖擊波存儲測試裝置研究現(xiàn)狀
        1.2.3 爆炸環(huán)境對沖擊波超壓測量裝置的影響研究現(xiàn)狀
    1.3 論文主要工作
2 沖擊波測試裝置設(shè)計要求分析
    2.1 測試裝置性能參數(shù)要求分析
    2.2 長低噪聲同軸電纜對沖擊波壓力信號的影響
        2.2.1 長低噪聲同軸電纜對高頻信號傳輸?shù)挠绊?br>        2.2.2 ICP傳感器驅(qū)動長低噪聲同軸電纜的能力
    2.3 本章小結(jié)
3 沖擊波超壓測試影響因素研究
    3.1 壓電式壓力傳感器對爆炸環(huán)境的適用性分析
        3.1.1 壓電式壓力傳感器在熱沖擊下的適用性分析
        3.1.2 壓電式壓力傳感器對爆炸振動的適用性分析
    3.2 安裝特性干擾
    3.3 環(huán)境因素干擾
        3.3.1 氣象條件的影響
        3.3.2 電磁干擾的影響
    3.4 本章小結(jié)
4 沖擊波存儲測試裝置設(shè)計
    4.1 沖擊波存儲測試裝置總體方案設(shè)計
        4.1.1 設(shè)計要求
        4.1.2 測試原理
        4.1.3 測試裝置組成
        4.1.4 測試裝置設(shè)計要求
    4.2 傳感器選型
    4.3 模擬電路設(shè)計
        4.3.1 電壓放大器
        4.3.2 放大濾波電路
        4.3.3 跟隨電路
        4.3.4 觸發(fā)電路
    4.4 數(shù)字電路設(shè)計
        4.4.1 主控芯片選型與設(shè)計
        4.4.2 A/D轉(zhuǎn)換電路設(shè)計
        4.4.3 存儲電路設(shè)計
        4.4.4 數(shù)據(jù)傳輸電路設(shè)計
    4.5 電源電路設(shè)計
    4.6 PCB設(shè)計
    4.7 下位機程序設(shè)計
        4.7.1 PLL時鐘程序設(shè)計
        4.7.2 AD程序設(shè)計
        4.7.3 FIFO程序設(shè)計
        4.7.4 觸發(fā)存儲程序設(shè)計
        4.7.5 數(shù)據(jù)傳輸程序設(shè)計
    4.8 上位機程序設(shè)計
    4.9 外殼設(shè)計
        4.9.1 殼體設(shè)計要求分析
        4.9.2 存儲測試裝置結(jié)構(gòu)組成及裝配
    4.10 本章小結(jié)
5 實驗驗證
    5.1 測試裝置性能測試
        5.1.1 電壓放大器性能測試
        5.1.2 傳感器零漂測試
        5.1.3 放大濾波電路性能測試
        5.1.4 采樣頻率測試
    5.2 振動對存儲測試裝置的影響
    5.3 模擬實驗
    5.4 本章小結(jié)
6 全文總結(jié)與展望
    6.1 全文總結(jié)
    6.2 展望
致謝
參考文獻
附錄



本文編號：3864369