某侵徹火箭彈引信可靠性分析及緩沖材料性能研究
發(fā)布時間:2023-10-08 18:19
對用于侵徹火箭彈中的引信控制系統(tǒng)進行設(shè)計分析,同時對引信可靠性和降低侵徹過程中引信所受加速度的方法進行了研究,為引信方案設(shè)計提供一定的參考。 研究了可靠性工程國內(nèi)外的發(fā)展及其重要性。由于引信是成敗型產(chǎn)品,引信可靠性的研究是貫穿于引信整個設(shè)計階段的一項重要工作。 根據(jù)侵徹引信的功能要求,繪制出引信的總體功能框圖。設(shè)計分析引信控制、發(fā)火和解除保險電路。同時,對引信機械部分的延期解除保險機構(gòu)——無返回力矩鐘表機構(gòu)的作用原理和過程進行了分析。 根據(jù)以上的分析,按照國軍標(biāo)規(guī)定采用自上而下的建樹法建立以“引信作用失效”為頂事件的引信故障樹圖,并對此進行分析,得到引信失效的所有故障原因,提出增加引信可靠性的設(shè)計建議。 根據(jù)具體采用的電子元器件的工作環(huán)境、質(zhì)量等級及其它的具體參數(shù),分別用元件計數(shù)法和元件應(yīng)力分析法對引信中控制電路的可靠性進行預(yù)計,估算出引信電路在工作狀態(tài)和非工作狀態(tài)下不同時期的失效率和可靠度。對提高引信電路可靠性的方法進行討論——在設(shè)計要求允許的情況下,盡量選擇增加冗余的方法來提高引信電路的可靠性。同時,預(yù)計引信安全系統(tǒng)的可靠度。 利用有限元仿真軟件LS-DYNA仿真彈丸的侵徹過程中引...
【文章頁數(shù)】:72 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
Abstract
1 緒論
1.1 可靠性研究的意義
1.2 可靠性研究的發(fā)展
1.2.1 國外可靠性研究的發(fā)展
1.2.2 國內(nèi)可靠性研究的發(fā)展
1.2.3 緩沖材料發(fā)展
1.3 論文的主要工作
2 某侵徹火箭彈引信結(jié)構(gòu)設(shè)計分析
2.1 某侵徹火箭彈引信的工作原理
2.2 某侵徹火箭彈引信的電路部分
2.2.1 侵徹電路的系統(tǒng)構(gòu)成
2.2.2 加速度傳感器
2.2.3 電荷放大器
2.2.4 電壓放大電路
2.2.5 濾波電路
2.2.6 單片機和存儲器的選擇
2.2.7 電壓變換電路設(shè)計
2.2.8 電解除保險電路
2.2.9 發(fā)火電路
2.3 某侵徹火箭彈引信的機械結(jié)構(gòu)部分
2.4 本章總結(jié)
3 某侵徹火箭彈引信故障樹分析
3.1 某侵徹火箭彈引信的故障樹繪制
3.2 某侵徹火箭彈引信故障樹的分析
3.3 本章小結(jié)
4 某侵徹火箭彈引信可靠性預(yù)計
4.1 電路可靠性預(yù)計的基礎(chǔ)介紹
4.1.1 可靠性預(yù)計的方法
4.1.2 電路可靠性預(yù)計分類
4.2 測試電路的可靠性框圖
4.2.1 信號處理電路的可靠性模型
4.2.2 電源電路的可靠性框圖
4.2.3 單片機和儲存器的可靠性框圖
4.3 元件計數(shù)法
4.3.1 電路工作狀態(tài)的可靠度
4.3.2 電路非工作狀態(tài)的可靠度
4.4 元件應(yīng)力分析法
4.4.1 電阻器的失效率
4.4.2 電容器的失效率
4.4.3 連接器的失效率
4.4.4 二極管的失效率
4.4.5 集成運算放大器TLC2262的失效率
4.4.6 降壓芯片MAX1615的失效率
4.4.7 C8051F310的失效率
4.4.8 FM25V10的失效率
4.4.9 MOS管的失效率
4.4.10 測試電路的失效率和可靠性
4.5 電路可靠性預(yù)計結(jié)果分析
4.5.1 元件計數(shù)法和元件應(yīng)力分析法結(jié)果比較
4.5.2 提高引信電路可靠度方法
4.6 引信安全系統(tǒng)的可靠性預(yù)計
4.7 本章總結(jié)
5 某侵徹火箭彈引信中的緩沖材料性能研究
5.1 緩沖材料介紹
5.1.1 聚四氟乙烯
5.1.2 泡沫鋁
5.2 LS-DYNA控制方程
5.3 仿真模型的建立
5.4 侵徹后仿真結(jié)果分析
5.4.1 模型1仿真計算結(jié)果及分析
5.4.2 模型2仿真計算結(jié)果及分析
5.4.3 模型3仿真計算結(jié)果及分析
5.4.4 泡沫鋁和聚四氟乙烯緩沖性能對比
5.4.5 結(jié)論
5.5 緩沖試驗
5.5.1 試驗設(shè)備設(shè)計
5.5.2 試驗過程
5.5.3 測試結(jié)果分析
5.6 本章小結(jié)
6 總結(jié)與展望
6.1 總結(jié)
6.2 展望
致謝
參考文獻
附錄
本文編號:3852544
【文章頁數(shù)】:72 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
Abstract
1 緒論
1.1 可靠性研究的意義
1.2 可靠性研究的發(fā)展
1.2.1 國外可靠性研究的發(fā)展
1.2.2 國內(nèi)可靠性研究的發(fā)展
1.2.3 緩沖材料發(fā)展
1.3 論文的主要工作
2 某侵徹火箭彈引信結(jié)構(gòu)設(shè)計分析
2.1 某侵徹火箭彈引信的工作原理
2.2 某侵徹火箭彈引信的電路部分
2.2.1 侵徹電路的系統(tǒng)構(gòu)成
2.2.2 加速度傳感器
2.2.3 電荷放大器
2.2.4 電壓放大電路
2.2.5 濾波電路
2.2.6 單片機和存儲器的選擇
2.2.7 電壓變換電路設(shè)計
2.2.8 電解除保險電路
2.2.9 發(fā)火電路
2.3 某侵徹火箭彈引信的機械結(jié)構(gòu)部分
2.4 本章總結(jié)
3 某侵徹火箭彈引信故障樹分析
3.1 某侵徹火箭彈引信的故障樹繪制
3.2 某侵徹火箭彈引信故障樹的分析
3.3 本章小結(jié)
4 某侵徹火箭彈引信可靠性預(yù)計
4.1 電路可靠性預(yù)計的基礎(chǔ)介紹
4.1.1 可靠性預(yù)計的方法
4.1.2 電路可靠性預(yù)計分類
4.2 測試電路的可靠性框圖
4.2.1 信號處理電路的可靠性模型
4.2.2 電源電路的可靠性框圖
4.2.3 單片機和儲存器的可靠性框圖
4.3 元件計數(shù)法
4.3.1 電路工作狀態(tài)的可靠度
4.3.2 電路非工作狀態(tài)的可靠度
4.4 元件應(yīng)力分析法
4.4.1 電阻器的失效率
4.4.2 電容器的失效率
4.4.3 連接器的失效率
4.4.4 二極管的失效率
4.4.5 集成運算放大器TLC2262的失效率
4.4.6 降壓芯片MAX1615的失效率
4.4.7 C8051F310的失效率
4.4.8 FM25V10的失效率
4.4.9 MOS管的失效率
4.4.10 測試電路的失效率和可靠性
4.5 電路可靠性預(yù)計結(jié)果分析
4.5.1 元件計數(shù)法和元件應(yīng)力分析法結(jié)果比較
4.5.2 提高引信電路可靠度方法
4.6 引信安全系統(tǒng)的可靠性預(yù)計
4.7 本章總結(jié)
5 某侵徹火箭彈引信中的緩沖材料性能研究
5.1 緩沖材料介紹
5.1.1 聚四氟乙烯
5.1.2 泡沫鋁
5.2 LS-DYNA控制方程
5.3 仿真模型的建立
5.4 侵徹后仿真結(jié)果分析
5.4.1 模型1仿真計算結(jié)果及分析
5.4.2 模型2仿真計算結(jié)果及分析
5.4.3 模型3仿真計算結(jié)果及分析
5.4.4 泡沫鋁和聚四氟乙烯緩沖性能對比
5.4.5 結(jié)論
5.5 緩沖試驗
5.5.1 試驗設(shè)備設(shè)計
5.5.2 試驗過程
5.5.3 測試結(jié)果分析
5.6 本章小結(jié)
6 總結(jié)與展望
6.1 總結(jié)
6.2 展望
致謝
參考文獻
附錄
本文編號:3852544
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