為了解決導(dǎo)彈武器開放式架構(gòu)電氣系統(tǒng)高度集成化后帶來的故障監(jiān)測(cè)問題,提出了一種基于獨(dú)立自測(cè)試的電氣系統(tǒng)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法,該方法應(yīng)用機(jī)內(nèi)測(cè)試的設(shè)計(jì)思路,在電氣系統(tǒng)中設(shè)計(jì)了獨(dú)立的監(jiān)測(cè)功能與流程,并提出了一種基于模糊深度學(xué)習(xí)的故障識(shí)別方法,經(jīng)故障注入測(cè)試,基于模糊深度學(xué)習(xí)的數(shù)據(jù)診斷方法具有較高的故障識(shí)別準(zhǔn)確率。導(dǎo)彈武器獨(dú)立自監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在不額外增加電氣設(shè)備的約束下提升了導(dǎo)彈武器的測(cè)試性。 

【文章來源】：導(dǎo)彈與航天運(yùn)載技術(shù). 2020,(03)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：5 頁

【圖文】：

基于模糊神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)方法的效能評(píng)估結(jié)果

徹δ萇璞腹收蝦罌殺３旨嗖獾緶返?有效運(yùn)行，且IBIT電路的自身故障不影響電氣系統(tǒng)功能。在充分發(fā)揮現(xiàn)有BIT技術(shù)的基礎(chǔ)上，IBIT技術(shù)增加了系統(tǒng)故障數(shù)據(jù)持續(xù)輸出與記錄能力，為系統(tǒng)的故障定位提供完整的監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，縮短故障診斷時(shí)間，提高故障診斷的精確性。2導(dǎo)彈武器IBIT系統(tǒng)設(shè)計(jì)2.1系統(tǒng)架構(gòu)導(dǎo)彈武器電氣系統(tǒng)一般由控制系統(tǒng)、測(cè)量系統(tǒng)等組成，本文設(shè)計(jì)的IBIT系統(tǒng)以控制系統(tǒng)、測(cè)量系統(tǒng)為測(cè)試研究對(duì)象，采用將IBIT電路嵌入到電氣系統(tǒng)內(nèi)各功能模塊或單機(jī)的方式實(shí)現(xiàn)獨(dú)立的自測(cè)試功能。如圖1所示，導(dǎo)彈武器IBIT系統(tǒng)的電氣功能單元包含：嵌入式電氣功能模塊或單機(jī)內(nèi)部的IBIT集成電路、IBIT獨(dú)立供電通道、IBIT獨(dú)立通信鏈路及IBIT地面設(shè)備，共同實(shí)現(xiàn)彈上電氣系統(tǒng)工作狀態(tài)的獨(dú)立監(jiān)測(cè)與實(shí)時(shí)狀態(tài)評(píng)估�；趯�(dǎo)彈武器綜合性能、研制周期與研制成本等多因素綜合約束設(shè)計(jì)，IBIT監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)轉(zhuǎn)發(fā)功能通過測(cè)量系統(tǒng)或彈上記錄儀等其他非IBIT系統(tǒng)專用設(shè)備實(shí)現(xiàn)，監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)的深度處理在IBIT地面設(shè)備進(jìn)行。圖1導(dǎo)彈武器IBIT系統(tǒng)架構(gòu)Fig.1MissileIBITSystemArchitecture2.2工作流程導(dǎo)彈武器IBIT系統(tǒng)工作流程如圖2所示，在測(cè)試流程中，電氣系統(tǒng)各設(shè)備狀態(tài)就緒后，測(cè)發(fā)控系統(tǒng)配電，檢查測(cè)發(fā)控系統(tǒng)狀態(tài)并為彈上IBIT系統(tǒng)配電，IBIT系統(tǒng)進(jìn)入實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)工作狀態(tài)后，開啟彈上電氣系統(tǒng)配電，彈上電氣系統(tǒng)進(jìn)入正常工作流程。通過彈地之間的數(shù)據(jù)傳輸，地面測(cè)發(fā)控或測(cè)量設(shè)備實(shí)時(shí)顯示彈上IBIT系統(tǒng)的監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，若出現(xiàn)已知安全性或其他嚴(yán)重異常，可通過測(cè)發(fā)控系統(tǒng)對(duì)彈上電氣系統(tǒng)進(jìn)行緊急斷電，若地面測(cè)量設(shè)備顯示正常或無嚴(yán)重異常，則在導(dǎo)彈武器測(cè)試結(jié)束后，按測(cè)試流程進(jìn)

氣功能單元包含：嵌入式電氣功能模塊或單機(jī)內(nèi)部的IBIT集成電路、IBIT獨(dú)立供電通道、IBIT獨(dú)立通信鏈路及IBIT地面設(shè)備，共同實(shí)現(xiàn)彈上電氣系統(tǒng)工作狀態(tài)的獨(dú)立監(jiān)測(cè)與實(shí)時(shí)狀態(tài)評(píng)估�；趯�(dǎo)彈武器綜合性能、研制周期與研制成本等多因素綜合約束設(shè)計(jì)，IBIT監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)轉(zhuǎn)發(fā)功能通過測(cè)量系統(tǒng)或彈上記錄儀等其他非IBIT系統(tǒng)專用設(shè)備實(shí)現(xiàn)，監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)的深度處理在IBIT地面設(shè)備進(jìn)行。圖1導(dǎo)彈武器IBIT系統(tǒng)架構(gòu)Fig.1MissileIBITSystemArchitecture2.2工作流程導(dǎo)彈武器IBIT系統(tǒng)工作流程如圖2所示，在測(cè)試流程中，電氣系統(tǒng)各設(shè)備狀態(tài)就緒后，測(cè)發(fā)控系統(tǒng)配電，檢查測(cè)發(fā)控系統(tǒng)狀態(tài)并為彈上IBIT系統(tǒng)配電，IBIT系統(tǒng)進(jìn)入實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)工作狀態(tài)后，開啟彈上電氣系統(tǒng)配電，彈上電氣系統(tǒng)進(jìn)入正常工作流程。通過彈地之間的數(shù)據(jù)傳輸，地面測(cè)發(fā)控或測(cè)量設(shè)備實(shí)時(shí)顯示彈上IBIT系統(tǒng)的監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，若出現(xiàn)已知安全性或其他嚴(yán)重異常，可通過測(cè)發(fā)控系統(tǒng)對(duì)彈上電氣系統(tǒng)進(jìn)行緊急斷電，若地面測(cè)量設(shè)備顯示正�；驘o嚴(yán)重異常，則在導(dǎo)彈武器測(cè)試結(jié)束后，按測(cè)試流程進(jìn)行彈上電氣系統(tǒng)下電，彈上IBIT系統(tǒng)下電以及測(cè)發(fā)控系統(tǒng)下電。測(cè)試結(jié)束后，將彈上記錄設(shè)備存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)及地面測(cè)量設(shè)備接收的數(shù)據(jù)組合導(dǎo)出到IBIT系統(tǒng)地面解析設(shè)備，地面解析設(shè)備處理后給出本次測(cè)試的IBIT獨(dú)立評(píng)估結(jié)果，根據(jù)評(píng)估結(jié)果給出故障原因定位或系統(tǒng)改進(jìn)建議。圖2導(dǎo)彈武器IBIT系統(tǒng)工作流程Fig.2MissileIBITSystemWorkflow3IBIT系統(tǒng)數(shù)據(jù)處理方法3.1實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理導(dǎo)彈武器IBIT系統(tǒng)的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理在彈上IBIT集成電路內(nèi)完成，通過彈地通信將彈上實(shí)時(shí)處理的結(jié)果實(shí)時(shí)顯示在地面設(shè)備上，實(shí)現(xiàn)導(dǎo)彈武器測(cè)試過程的實(shí)時(shí)狀態(tài)識(shí)別

【參考文獻(xiàn)】：
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本文編號(hào)：3402256