基于工藝因素統(tǒng)計量化的多工序制造質(zhì)量建模
發(fā)布時間:2021-06-28 17:39
針對現(xiàn)有復(fù)雜武器裝備多工序制造系統(tǒng)(MSMS)模型描述不全面、分析結(jié)果不準(zhǔn)確的問題,在充分分析MSMS特點(diǎn)的基礎(chǔ)上,提出質(zhì)量傳遞綜合模型(QTCM),建立了多工序質(zhì)量傳遞過程的嚴(yán)格數(shù)學(xué)表達(dá)。在QTCM的框架范圍內(nèi),分別借助心理學(xué)和統(tǒng)計學(xué)知識,對以往難以量化的操作者能力和制造設(shè)備狀態(tài)進(jìn)行量化。采用制造過程歷史數(shù)據(jù)構(gòu)建影響因素和質(zhì)量輸出之間的映射關(guān)系,建立了質(zhì)量的傳遞過程。通過分析各影響因素對產(chǎn)品質(zhì)量偏差的貢獻(xiàn)量,確定影響多工序制造質(zhì)量的主要誤差源,進(jìn)而為產(chǎn)品質(zhì)量的提升提供指導(dǎo)。以某型號導(dǎo)彈發(fā)動機(jī)轉(zhuǎn)子系統(tǒng)為例進(jìn)行了驗(yàn)證,結(jié)果表明,QTCM可以方便地借助原材料質(zhì)量或工藝質(zhì)量計算獲得產(chǎn)品的最終質(zhì)量分布狀況,分析結(jié)果與工廠測量結(jié)果一致。
【文章來源】:兵工學(xué)報. 2020,41(07)北大核心EICSCD
【文章頁數(shù)】:9 頁
【部分圖文】:
單工序制造過程
在單工序質(zhì)量模型的基礎(chǔ)上,可以擴(kuò)展得到多工序的質(zhì)量模型,具有兩道工序的連續(xù)多工序制造系統(tǒng)如圖2所示。圖2中:F1和F2分別為兩工序中KCC與KPC之間的映射關(guān)系;s1和s2分別為兩工序中來自于制造過程階段的KCC;q0為工序1中來自于制造準(zhǔn)備階段的KCC.根據(jù)(6)式,多工序制造系統(tǒng)中任意工序的KPC方差可表示為
多工序制造系統(tǒng)中可能用到的設(shè)備多種多樣,F(xiàn)有針對制造設(shè)備的研究大都針對某一類設(shè)備,其方法不具備通用性,如數(shù)控機(jī)床可靠性的研究。在多工序制造系統(tǒng)中,操作者會針對當(dāng)前工序產(chǎn)品的制造合格與否對設(shè)備進(jìn)行調(diào)整,因此同一臺設(shè)備在t時刻的狀態(tài)與其在t-1時刻的狀態(tài)具有一定的相關(guān)性。同時,在一段時間內(nèi),同一臺設(shè)備制造產(chǎn)品的合格率是一個穩(wěn)定的數(shù)值[14]。這些統(tǒng)計學(xué)特點(diǎn)使得可以借助馬爾可夫模型對設(shè)備的狀態(tài)進(jìn)行刻畫。一個典型的馬爾可夫轉(zhuǎn)移模型如圖3所示,假設(shè)完成某一工序任務(wù)所用到的制造設(shè)備處于合格狀態(tài)g,在下一時刻它的狀態(tài)變?yōu)椴缓细駹顟B(tài)d的轉(zhuǎn)移概率為λ,因此它在下一時刻保持狀態(tài)g的概率為1-λ.同樣,如果某一制造設(shè)備處于不合格狀態(tài)d,在下一時刻它的狀態(tài)變?yōu)楹细駹顟B(tài)g的轉(zhuǎn)移概率為μ,在下一時刻保持狀態(tài)d的概率為1-μ.令P(g,t)和P(d,t)分別表示設(shè)備在t時刻處于狀態(tài)g和狀態(tài)d的概率。由貝葉斯公式,t+1時刻的設(shè)備合格概率為
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于可靠性增長的武器系統(tǒng)可靠性鑒定試驗(yàn)方案研究[J]. 李大偉,阮旻智,尤焜. 兵工學(xué)報. 2017(09)
[2]基于離散事件仿真的多狀態(tài)多階段任務(wù)系統(tǒng)可靠性分析[J]. 蘇續(xù)軍,呂學(xué)志. 兵工學(xué)報. 2017(04)
碩士論文
[1]基于5M1E的飛機(jī)總裝過程三維可視化及其管控方法[D]. 吳一凡.浙江大學(xué) 2019
本文編號:3254760
【文章來源】:兵工學(xué)報. 2020,41(07)北大核心EICSCD
【文章頁數(shù)】:9 頁
【部分圖文】:
單工序制造過程
在單工序質(zhì)量模型的基礎(chǔ)上,可以擴(kuò)展得到多工序的質(zhì)量模型,具有兩道工序的連續(xù)多工序制造系統(tǒng)如圖2所示。圖2中:F1和F2分別為兩工序中KCC與KPC之間的映射關(guān)系;s1和s2分別為兩工序中來自于制造過程階段的KCC;q0為工序1中來自于制造準(zhǔn)備階段的KCC.根據(jù)(6)式,多工序制造系統(tǒng)中任意工序的KPC方差可表示為
多工序制造系統(tǒng)中可能用到的設(shè)備多種多樣,F(xiàn)有針對制造設(shè)備的研究大都針對某一類設(shè)備,其方法不具備通用性,如數(shù)控機(jī)床可靠性的研究。在多工序制造系統(tǒng)中,操作者會針對當(dāng)前工序產(chǎn)品的制造合格與否對設(shè)備進(jìn)行調(diào)整,因此同一臺設(shè)備在t時刻的狀態(tài)與其在t-1時刻的狀態(tài)具有一定的相關(guān)性。同時,在一段時間內(nèi),同一臺設(shè)備制造產(chǎn)品的合格率是一個穩(wěn)定的數(shù)值[14]。這些統(tǒng)計學(xué)特點(diǎn)使得可以借助馬爾可夫模型對設(shè)備的狀態(tài)進(jìn)行刻畫。一個典型的馬爾可夫轉(zhuǎn)移模型如圖3所示,假設(shè)完成某一工序任務(wù)所用到的制造設(shè)備處于合格狀態(tài)g,在下一時刻它的狀態(tài)變?yōu)椴缓细駹顟B(tài)d的轉(zhuǎn)移概率為λ,因此它在下一時刻保持狀態(tài)g的概率為1-λ.同樣,如果某一制造設(shè)備處于不合格狀態(tài)d,在下一時刻它的狀態(tài)變?yōu)楹细駹顟B(tài)g的轉(zhuǎn)移概率為μ,在下一時刻保持狀態(tài)d的概率為1-μ.令P(g,t)和P(d,t)分別表示設(shè)備在t時刻處于狀態(tài)g和狀態(tài)d的概率。由貝葉斯公式,t+1時刻的設(shè)備合格概率為
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于可靠性增長的武器系統(tǒng)可靠性鑒定試驗(yàn)方案研究[J]. 李大偉,阮旻智,尤焜. 兵工學(xué)報. 2017(09)
[2]基于離散事件仿真的多狀態(tài)多階段任務(wù)系統(tǒng)可靠性分析[J]. 蘇續(xù)軍,呂學(xué)志. 兵工學(xué)報. 2017(04)
碩士論文
[1]基于5M1E的飛機(jī)總裝過程三維可視化及其管控方法[D]. 吳一凡.浙江大學(xué) 2019
本文編號:3254760
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