發(fā)布時(shí)間：2021-06-18 08:10

　　紅外成像制導(dǎo)技術(shù)在精確制導(dǎo)領(lǐng)域中占有非常重要的地位。紅外成像制導(dǎo)技術(shù)是在紅外點(diǎn)源制導(dǎo)技術(shù)基礎(chǔ)上發(fā)展起來的,是目前紅外制導(dǎo)技術(shù)發(fā)展的主流。紅外成像導(dǎo)引頭多采用紅外焦平面陣列探測器,這種探測器具有很高的靈敏度和幀頻,因而在更好地捕獲目標(biāo)物體輻射信號的同時(shí)也更易受雜散光（尤其是太陽光）的影響,嚴(yán)重時(shí)雜散光信號甚至?xí)䦟⒛繕?biāo)信號“淹沒”,使導(dǎo)引頭失去目標(biāo),因此評估導(dǎo)引頭抗雜散光干擾性能是十分必要的。為評估紅外成像導(dǎo)引頭的抗雜散光干擾性能,開發(fā)了一套雜散光測試設(shè)備,可以對紅外成像導(dǎo)引頭受雜散光干擾情況進(jìn)行定量分析,同時(shí)也可對其他紅外成像光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行雜散光測試。另一方面,由于導(dǎo)引頭輸出的圖像信號一般采用LVDS或HOTLink格式傳輸,不能被雜散光測試設(shè)備直接接收,設(shè)計(jì)了一款導(dǎo)引頭信號調(diào)理卡,能夠?qū)⒍喾N不同型號導(dǎo)引頭輸出的圖像信號轉(zhuǎn)換成測試設(shè)備可識別的信號格式。課題來自于天津大學(xué)與中國空空導(dǎo)彈研究院合作項(xiàng)目。本論文主要內(nèi)容有:1.根據(jù)技術(shù)要求,提出了雜散光測試設(shè)備總體設(shè)計(jì)方案,并分模塊進(jìn)行了設(shè)計(jì);提出了信號調(diào)理卡的設(shè)計(jì)方案;2.基于單片機(jī)設(shè)計(jì)了溫度監(jiān)測系統(tǒng),主要包括氙燈溫度監(jiān)測、太陽模擬器箱體溫度監(jiān)... 

【文章來源】：天津大學(xué)天津市 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：64 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

紅外成像導(dǎo)引頭工作原理

圖 1-2 太陽在大氣層外能量隨波長分布輻射雜散光測試設(shè)備概述分析可知，太陽作為一個(gè)重要的干擾源，可能會對導(dǎo)引頭成，且導(dǎo)引頭與太陽輻射夾角不同，這種影響也不盡相同，因陽輻射雜散光能力是一項(xiàng)非常重要的工作。為此，本課題開散光測試設(shè)備。圖 1-3 雜散光測試設(shè)備的工作原理示意圖測試設(shè)備工作原理如圖1-3所示。太陽模擬器模擬太陽產(chǎn)生雜段）作為干擾光，照射到紅外成像導(dǎo)引頭的光學(xué)系統(tǒng)上，姿

太陽輻射雜散光測試設(shè)備。圖 1-3 雜散光測試設(shè)備的工作原理示意圖雜散光測試設(shè)備工作原理如圖1-3所示。太陽模擬器模擬太陽產(chǎn)生雜散光（主要是紅外波段）作為干擾光，照射到紅外成像導(dǎo)引頭的光學(xué)系統(tǒng)上，姿態(tài)調(diào)整機(jī)構(gòu)可以改變導(dǎo)引頭光學(xué)系統(tǒng)與干擾光的夾角，用探測器采集各夾角下干擾光背景噪聲，通過計(jì)算機(jī)分析背景噪聲圖像和導(dǎo)引頭成像就可評估太陽輻射雜散光對導(dǎo)引頭的影響。對紅外成像制導(dǎo)導(dǎo)彈的太陽輻射雜散光測試評估技術(shù)，在一些西方國家已經(jīng)比較成熟，但在我國目前還沒有投入使用的此類評估設(shè)備。本設(shè)備的開發(fā)將會對我國紅外成像制導(dǎo)技術(shù)的進(jìn)步起到積極作用，為我國國防事業(yè)的發(fā)展做出貢獻(xiàn)。1.4 紅外成像導(dǎo)引頭信號調(diào)理卡概述前文 1.1 節(jié)中提到，凝視成像是目前紅外成像制導(dǎo)技術(shù)的主要研究方向，凝

【參考文獻(xiàn)】：
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本文編號：3236302