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某型導彈前艙引信測試故障診斷方法研究

發(fā)布時間:2021-03-10 17:36
  對前艙綜合測試系統(tǒng)的引信測試故障模式進行分析,根據(jù)分析結(jié)果研究相關(guān)故障診斷技術(shù),依據(jù)測試系統(tǒng)和引信內(nèi)部的特點,結(jié)合模塊化的測試程序,按照引信測試操作流程抽取電路子網(wǎng)絡(luò),采用故障診斷中的子網(wǎng)絡(luò)診斷法進行電路子網(wǎng)絡(luò)的故障模式分析?紤]到抽取出來的電路子網(wǎng)絡(luò)是引信PF3測試項目,故可使用設(shè)置少數(shù)采樣點來表征電路信息,這樣就可以分析電路信息來進行故障診斷。通過實例試驗對診斷方法的實用性和有效性進行驗證,為類似復雜電子系統(tǒng)的故障診斷尤其是引信電路故障診斷提供了新的方向。 

【文章來源】:電子測量技術(shù). 2020,43(16)

【文章頁數(shù)】:5 頁

【部分圖文】:

某型導彈前艙引信測試故障診斷方法研究


產(chǎn)品故障概率分布

原理圖,原理,故障排除,故障模式


關(guān)鍵點采樣原理

原理圖,原理,引信,靈敏度


為進一步說明方法的有效性和實用性,現(xiàn)對某型導彈前艙綜合測試系統(tǒng)引信測試器測試引信時出現(xiàn)的PF3故障進行實例分析。首先根據(jù)實際操作過程和相關(guān)技術(shù)資料,抽取引信測試器測試引信PF3輸出的電路子網(wǎng)絡(luò)[11],如圖3所示。PF3測試主要用于檢測引信靈敏度,目的是考核引信的靈敏度是否在規(guī)定的區(qū)間內(nèi),用數(shù)據(jù)統(tǒng)計電路評價產(chǎn)品合格概率,該項指標不合格表示引信靈敏度不合格。PF3測試分為以下3個測試周期:

【參考文獻】:
期刊論文
[1]航空地面試驗測試技術(shù)現(xiàn)狀與展望[J]. 王紅.  測控技術(shù). 2019(08)
[2]某型空空導彈近炸引信PF2故障典型案例分析[J]. 楊寧,王小琴,程曉雪,李田田,侯志軍.  航空維修與工程. 2018(12)
[3]空空導彈外場故障決策與維修支援系統(tǒng)研究[J]. 閆華.  測控技術(shù). 2017(06)
[4]導彈測試設(shè)備故障模式分析與診斷技術(shù)[J]. 蔡光斌,胡昌華,王鑫.  導彈與航天運載技術(shù). 2007(02)
[5]射頻制導導彈故障自動診斷系統(tǒng)[J]. 汪亞平,金玉紅,陸克輝.  上海航天. 1999(05)
[6]導引頭自動測試系統(tǒng)中的智能故障診斷[J]. 張靖,陳大吾.  上海航天. 1996(01)

碩士論文
[1]輸入輸出電路板故障診斷[D]. 邢秀琴.中北大學 2006



本文編號:3075015

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