主要研究BIT（built-in-test）間歇報(bào)警的產(chǎn)生原因及其引起虛警/漏檢的模式和機(jī)理,同時(shí)以軸承振動(dòng)信號(hào)為例進(jìn)行說(shuō)明,并給出系統(tǒng)故障決策的改進(jìn)途徑。首先分析系統(tǒng)的故障形式及測(cè)試原理,總結(jié)了BIT的報(bào)警模式和內(nèi)涵。其次分析了測(cè)試過(guò)程中各種干擾因素,并且評(píng)估其在故障測(cè)試中的重要性。再次通過(guò)給出間歇故障和外界干擾對(duì)系統(tǒng)影響的例子,討論其導(dǎo)致BIT報(bào)警的內(nèi)在機(jī)理。最后給出如何通過(guò)詳細(xì)分析BIT的報(bào)警原因,從而正確判斷系統(tǒng)故障的途徑。 

【文章來(lái)源】：電子測(cè)量技術(shù). 2020,43(04)

【文章頁(yè)數(shù)】：6 頁(yè)

【部分圖文】：

BIT測(cè)試原理

如圖2所示,根據(jù)系統(tǒng)故障表現(xiàn)形式可將BIT測(cè)試結(jié)果劃分為持續(xù)報(bào)警、間歇報(bào)警和瞬態(tài)報(bào)警。實(shí)際上瞬態(tài)報(bào)警可以歸類于間歇報(bào)警,它們都會(huì)在短時(shí)間后恢復(fù),區(qū)別在于是否反復(fù)發(fā)生。1)持續(xù)報(bào)警:

隨著運(yùn)行時(shí)間加長(zhǎng),產(chǎn)品的可靠度逐漸下降且故障率上升,所以故障特征真值xr和時(shí)間t相關(guān),xr=x(t)。如圖3(a)所示,一般產(chǎn)品的健康狀態(tài)隨著時(shí)間增加而下降。在特定情況下,如系統(tǒng)有間歇故障時(shí)xr會(huì)產(chǎn)生波動(dòng)。3)應(yīng)力干擾

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號(hào)：3060591