主瓣多點(diǎn)源/變極化干擾中雷達(dá)目標(biāo)檢測(cè)方法
發(fā)布時(shí)間：2020-12-29 02:48
隨著現(xiàn)代電子對(duì)抗的逐步發(fā)展,雷達(dá)面臨的戰(zhàn)場(chǎng)電磁環(huán)境日趨復(fù)雜。各種伴隨式、自衛(wèi)式、支援式干擾協(xié)同突防的作戰(zhàn)模式使得雷達(dá)天線(xiàn)主瓣內(nèi)同時(shí)接收到多個(gè)干擾的幾率大為增加�！爸靼辍迸c“多點(diǎn)源”的結(jié)合,進(jìn)一步壓縮了雷達(dá)目標(biāo)回波與干擾信號(hào)在時(shí)-頻-空域中的差異,使得傳統(tǒng)的雷達(dá)抗干擾方法難以為繼。極化作為電磁波除時(shí)、頻、空、域之外的又一維可利用信息,與雷達(dá)抗干擾性能提升密切相關(guān)。但隨著干擾技術(shù)的發(fā)展,變極化干擾在國(guó)外現(xiàn)役以及新一代干擾裝備中都得到了應(yīng)用,成為雷達(dá)探測(cè)面臨的另一難題。本文基于主瓣多點(diǎn)源干擾、變極化干擾與目標(biāo)的極化特性差異,圍繞“主瓣多點(diǎn)源/變極化干擾中雷達(dá)目標(biāo)檢測(cè)方法及其能力分析”展開(kāi)研究,論文主要內(nèi)容可分為三方面:1.現(xiàn)有方法對(duì)抗主瓣多點(diǎn)源干擾/變極化干擾的能力分析。介紹了極化域-空域聯(lián)合濾波、基于極化-空間譜估計(jì)的目標(biāo)檢測(cè)方法的基本原理,在此基礎(chǔ)上分析了這兩種方法在不同情形主瓣多點(diǎn)源干擾/變極化干擾中的干擾抑制性能或目標(biāo)檢測(cè)能力,揭示了這兩種方法對(duì)抗主瓣多點(diǎn)源干擾/變極化干擾的局限性。2.基于均勻相位分集的極化雷達(dá)目標(biāo)檢測(cè)方法。針對(duì)原有目標(biāo)檢測(cè)方法在多點(diǎn)源干擾、變極化干擾背景中檢測(cè)誤判...
【文章來(lái)源】：國(guó)防科技大學(xué)湖南省 211工程院校 985工程院校
【文章頁(yè)數(shù)】：74 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【部分圖文】：
發(fā)射極化分集時(shí)下合成譜及其峰值檢測(cè)效果
陣列中各陣元由于空間位置不同，對(duì)同一空間信源產(chǎn)生不同的傳播時(shí)延，從而造成相位響應(yīng)差異，陣列的導(dǎo)向矢量即是對(duì)這種差異的建模。但當(dāng)陣元實(shí)際位置與建模中理想位置結(jié)構(gòu)間存在擾動(dòng)時(shí)，陣列導(dǎo)向矢量中將引入相位擾動(dòng)。假設(shè)第 m個(gè)陣元的位置誤差為( , )m m x y ，對(duì)于第 k 個(gè)信號(hào)產(chǎn)生的相位誤差可表示為2j ( sin cos )m m k m kx y (4.3)則存在陣元位置誤差時(shí)，實(shí)際導(dǎo)向矢量可表示為 A A，其中1 2 2diag[ ... ]M (4.4)4.2.3 極化取向誤差模型極化陣列在使用中由于環(huán)境的因素及制作工藝的影響，可能導(dǎo)致雙正交的電偶極子不能?chē)?yán)格地指向參考正交坐標(biāo)軸，形成極化取向誤差[70]。假設(shè)第 k 個(gè)陣與參考陣元的極化取向不一致，相對(duì)于原坐標(biāo)( x, y )取向角誤差為k 。陣元 k 的向誤差可看作坐標(biāo)軸變換：將陣元k 繞x軸逆時(shí)針旋轉(zhuǎn) ，形成新坐標(biāo)軸( , )k kx y 誤差陣元的結(jié)構(gòu)示意如圖 4.1 所示。
0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 0.0300.511.522.53通 道 幅 相 誤 差 標(biāo) 準(zhǔn) 差分辨力()°無(wú) 幅 相 誤 差圖 4.6 分辨性能隨通道幅相誤差變化曲線(xiàn)圖由圖 4.6，通道幅相誤差使得基于譜估計(jì)的檢測(cè)方法分辨能力降低，且這種變化隨誤差標(biāo)準(zhǔn)差增大惡化加劇。其次結(jié)合圖 4.7-圖 4.10 進(jìn)一步綜合分析通道幅相誤差對(duì)目標(biāo)檢測(cè)性能的影響圖 4.7-圖 4.10 中給出了不同情形中存在/不存在通道幅相誤差( 0.02)時(shí)對(duì)比譜圖。圖 4.7-圖 4.9 為主瓣內(nèi)單個(gè)干擾情形，干擾方位角為 0°，極化狀態(tài)為(45 , 45 ) 。圖 4.10 為多點(diǎn)源干擾情形，具體信源參數(shù)設(shè)置同 2.3.3 節(jié)中表 2.2。
本文編號(hào)：2944858
【文章來(lái)源】：國(guó)防科技大學(xué)湖南省 211工程院校 985工程院校
【文章頁(yè)數(shù)】：74 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【部分圖文】：
發(fā)射極化分集時(shí)下合成譜及其峰值檢測(cè)效果
陣列中各陣元由于空間位置不同，對(duì)同一空間信源產(chǎn)生不同的傳播時(shí)延，從而造成相位響應(yīng)差異，陣列的導(dǎo)向矢量即是對(duì)這種差異的建模。但當(dāng)陣元實(shí)際位置與建模中理想位置結(jié)構(gòu)間存在擾動(dòng)時(shí)，陣列導(dǎo)向矢量中將引入相位擾動(dòng)。假設(shè)第 m個(gè)陣元的位置誤差為( , )m m x y ，對(duì)于第 k 個(gè)信號(hào)產(chǎn)生的相位誤差可表示為2j ( sin cos )m m k m kx y (4.3)則存在陣元位置誤差時(shí)，實(shí)際導(dǎo)向矢量可表示為 A A，其中1 2 2diag[ ... ]M (4.4)4.2.3 極化取向誤差模型極化陣列在使用中由于環(huán)境的因素及制作工藝的影響，可能導(dǎo)致雙正交的電偶極子不能?chē)?yán)格地指向參考正交坐標(biāo)軸，形成極化取向誤差[70]。假設(shè)第 k 個(gè)陣與參考陣元的極化取向不一致，相對(duì)于原坐標(biāo)( x, y )取向角誤差為k 。陣元 k 的向誤差可看作坐標(biāo)軸變換：將陣元k 繞x軸逆時(shí)針旋轉(zhuǎn) ，形成新坐標(biāo)軸( , )k kx y 誤差陣元的結(jié)構(gòu)示意如圖 4.1 所示。
0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 0.0300.511.522.53通 道 幅 相 誤 差 標(biāo) 準(zhǔn) 差分辨力()°無(wú) 幅 相 誤 差圖 4.6 分辨性能隨通道幅相誤差變化曲線(xiàn)圖由圖 4.6，通道幅相誤差使得基于譜估計(jì)的檢測(cè)方法分辨能力降低，且這種變化隨誤差標(biāo)準(zhǔn)差增大惡化加劇。其次結(jié)合圖 4.7-圖 4.10 進(jìn)一步綜合分析通道幅相誤差對(duì)目標(biāo)檢測(cè)性能的影響圖 4.7-圖 4.10 中給出了不同情形中存在/不存在通道幅相誤差( 0.02)時(shí)對(duì)比譜圖。圖 4.7-圖 4.9 為主瓣內(nèi)單個(gè)干擾情形，干擾方位角為 0°，極化狀態(tài)為(45 , 45 ) 。圖 4.10 為多點(diǎn)源干擾情形，具體信源參數(shù)設(shè)置同 2.3.3 節(jié)中表 2.2。
本文編號(hào)：2944858
本文鏈接：http://sikaile.net/kejilunwen/jingguansheji/2944858.html
最近更新
教材專(zhuān)著
