THz時(shí)域光譜技術(shù)對(duì)于火工藥劑老化的檢測(cè)研究
【圖文】:
圖 1-1 THz 波在電磁波譜中的位置Fig.1-1 THz in the electromagnetic spectrumHz 技術(shù)發(fā)展初期,由于不能有效地產(chǎn)生探測(cè) THz 波,使得 THz 科學(xué)技術(shù)的限制住。到了 20 世紀(jì) 80 年代末[3,4],隨著半導(dǎo)體技術(shù)和超快光電子技術(shù)的 THz 輻射提供了穩(wěn)定的輻射源和高精度的探測(cè)器,從而使 THz 科學(xué)技術(shù)得。2004 年,THz 科學(xué)技術(shù)被美國(guó)列為改變未來(lái)世界的十大技術(shù)之一[5],在 2將 THz 科學(xué)技術(shù)列為“國(guó)家支柱技術(shù)十大重點(diǎn)戰(zhàn)略目標(biāo)”之首,由此可見(jiàn)
西安理工大學(xué)碩士學(xué)位論文射在光電導(dǎo)天線(低溫 GaAs)表面的兩個(gè)電極之間,輻射出 THz。THz 輻射脈沖經(jīng)組離軸拋面鏡(PM1-PM4)的準(zhǔn)直和聚焦之后,垂直聚焦在 ZnTe 探測(cè)晶體的表面,離軸拋面鏡 PM2 和 PM3 之間的焦點(diǎn)上為放置樣品的位置。同時(shí)探測(cè)光經(jīng)過(guò)反射鏡和片之后,與 THz 輻射脈沖垂直共線地入射在在 ZnTe 表面。由于探測(cè)光的脈寬遠(yuǎn)小Hz 輻射的脈寬,因此在通過(guò) ZnTe 探測(cè)晶體時(shí) THz 輻射電場(chǎng)將對(duì)探測(cè)脈沖進(jìn)行調(diào)制,探測(cè)光的偏振態(tài)發(fā)生變化,這個(gè)過(guò)程可以反映出 THz 輻射電場(chǎng)的大小以及隨時(shí)間變情況。偏振態(tài)發(fā)生變化后的探測(cè)光再經(jīng)過(guò)透鏡 L3 和四分之一波片(QWP)之后,被斯頓棱鏡(Wollaston Prism,WP)分成兩束偏振方向互相垂直的偏振光,這兩束光個(gè)光電二極管組成的平衡探測(cè)器所接收并進(jìn)行差分處理,最后將差分信號(hào)輸入鎖相放,并通過(guò)計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)的采集和處理,,記錄 THz 時(shí)域波形數(shù)據(jù)。實(shí)驗(yàn)中樣品位于拋面鏡 PM2 后的焦點(diǎn)位置,THz 輻射脈沖在透過(guò)樣品時(shí)便會(huì)攜帶樣品的相關(guān)信息,后期的數(shù)據(jù)處理就可以得到樣品的相關(guān)信息參數(shù)。
【學(xué)位授予單位】:西安理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類(lèi)號(hào)】:O657.3;TQ560.72
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本文編號(hào):2631105
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