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實(shí)時(shí)監(jiān)測技術(shù)研究薄液膜下電偶腐蝕的機(jī)理

發(fā)布時(shí)間:2024-06-08 04:16
  采用大氣腐蝕檢測技術(shù)(ACM)、零電阻電流技術(shù)(ZRA)以及電化學(xué)阻抗譜技術(shù)(EIS)對2024鋁合金與316L不銹鋼在薄液膜下的電偶腐蝕行為進(jìn)行了實(shí)時(shí)監(jiān)測。結(jié)果表明,電偶腐蝕的過程可分為誘導(dǎo)期、加速期和減速期3個(gè)階段。隨著兩電極之間距離的減小,電偶腐蝕會(huì)快速誘發(fā),且腐蝕速率迅速增加,但電偶腐蝕的加速期變短。

【文章頁數(shù)】:6 頁

【文章目錄】:
1 實(shí)驗(yàn)方法
2 結(jié)果與討論
    2.1 大氣腐蝕監(jiān)測儀測試
    2.2 零電阻電流測試
    2.3 EIS測試
3 結(jié)論



本文編號(hào):3991439

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