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掃描方式與預(yù)熱溫度對(duì)激光選區(qū)熔化制備大尺寸AlSi10Mg合金性能的影響

發(fā)布時(shí)間:2021-08-07 00:51
  采用激光選區(qū)熔化技術(shù)制備大尺寸AlSi10Mg合金試樣,研究了掃描方式(棋盤式掃描與均勻掃描)及基板預(yù)熱溫度(80℃和120℃)對(duì)AlSi10Mg合金試樣顯微組織、密度和力學(xué)性能等的影響。結(jié)果表明:掃描方式是影響試樣相對(duì)密度、拉伸性能和沖擊性能的主要因素,而預(yù)熱溫度主要影響試樣的硬度;預(yù)熱溫度80℃、棋盤式掃描方式下試樣的相對(duì)密度最大(98.69%),拉伸性能和沖擊韌性最好;預(yù)熱120℃、棋盤式掃描方式下試樣的硬度最高(257HV)。 

【文章來源】:機(jī)械工程材料. 2017,41(10)北大核心CSCD

【文章頁(yè)數(shù)】:6 頁(yè)

【部分圖文】:

掃描方式與預(yù)熱溫度對(duì)激光選區(qū)熔化制備大尺寸AlSi10Mg合金性能的影響


圖1AlSi10Mg鋁合金粉體的SEM形貌Fig.1SEMmorphologyofAlSi10Mgaluminumalloypowder

形貌,棋盤式,掃描方式,方式


.02余圖1AlSi10Mg鋁合金粉體的SEM形貌Fig.1SEMmorphologyofAlSi10Mgaluminumalloypowder采用配備400W光纖激光器的RenishawAM250的金屬熔化增材制造設(shè)備來制備AlSi10Mg鋁合金試樣,優(yōu)化后的成型工藝參數(shù)為:熱輸入430J·m-1,掃描間距0.07mm,鋪粉層厚度0.025mm,設(shè)備成型尺寸為250mm×250mm×250mm,掃描方式為棋盤式掃描方式與均勻掃描方式,如圖2所示。棋盤式掃描方式是將掃描平面劃分為多個(gè)整齊排列的棋盤格,在每個(gè)棋盤格內(nèi)分布著均勻的掃描跡線,相鄰棋盤格間的掃描跡線旋轉(zhuǎn)90°,相鄰層間的整個(gè)棋盤格逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)67°。均勻掃描方式是在整個(gè)掃描平面內(nèi)進(jìn)行連續(xù)長(zhǎng)線掃描,相鄰層間的掃描跡線逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)67°。SLM制備的大尺寸圖2棋盤式網(wǎng)格掃描方式與均勻掃描方式的對(duì)比Fig.2ComparisonofchessboardscanningstrategyandmeanderscanningstrategyAlSi10Mg鋁合金試樣尺寸為120mm×100mm×11mm。基板的預(yù)熱溫度分別設(shè)定為80℃與120℃。1.2試驗(yàn)方法在大尺寸試樣中間截取尺寸為10mm×10mm×20mm的金相試樣,分別對(duì)試樣的頂面(xy平面)與側(cè)面(xz平面)進(jìn)行打磨、拋光與腐蝕處理。腐蝕試劑為Keller溶液,腐蝕時(shí)間為30s,采用蔡司AxioLab.A1POL型光學(xué)顯微鏡進(jìn)行顯微組織觀察。在大尺寸試樣中間截取尺寸為10mm×10mm×10mm

掃描方式,棋盤式,試樣,大尺寸


80℃時(shí),棋盤式掃描與均勻掃描方式下試樣的硬度基本相同,分別為176HV和170HV。2.5分析與討論在SLM過程中,熔池沿平行于激光掃描的方向被拉長(zhǎng),而散熱方向則與激光運(yùn)動(dòng)的方向相反,如圖9所示,因此激光的掃描方式主要影響試樣的散熱方式,進(jìn)而影響其微觀組織及性能。采用預(yù)熱80℃、棋盤式掃描時(shí),每個(gè)棋盤格均為一個(gè)散熱單元,散熱方向多元化,如圖10所示,這種掃描方式下試樣的散熱速率較快,內(nèi)應(yīng)力較小,缺陷較少,適用于大尺寸試樣的制備;同時(shí)基板預(yù)熱溫度圖9SLM過程中的散熱示意Fig.9HeatdissipationdiagraminSLMprocess圖10棋盤式掃描下多向散熱示意Fig.10Multidirectionalheatdissipationdiagramunderchessboardscanning適宜,熔池尺寸較小且呈棋盤格式周期排列,因此試樣的相對(duì)密度最大、拉伸性能和沖擊韌性最好。該試驗(yàn)結(jié)果與席明哲等[6]的研究結(jié)果一致,席明哲等[6]在研究激光快速制造TA15鈦合金時(shí)發(fā)現(xiàn),棋盤掃描方式可顯著細(xì)化鈦合金的顯微組織,與均勻掃描方式制備的試樣相比,棋盤式掃描方式下制備的試樣具有更好的力學(xué)性能。預(yù)熱80℃、均勻掃描方式時(shí),試樣的整個(gè)橫截面為散熱單元,且散熱方向單一,在制備大尺寸試樣時(shí)易產(chǎn)生較多的缺陷及內(nèi)應(yīng)力累積,此方法適用于薄壁件的56


本文編號(hào):3326822

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