電流密度和氧化時間對鋁硅合金陽極氧化膜的影響
本文選題:鋁合金 + 陽極氧化 ; 參考:《熱加工工藝》2017年02期
【摘要】:以Al-4%Si合金為研究對象,研究了電流密度和氧化時間對鋁硅合金陽極氧化膜的影響,并確定了合適的制膜工藝。通過熱震、鹽霧腐蝕試驗對氧化膜的厚度和顯微組織進行分析。結(jié)果表明:隨著電流密度的增大,氧化膜孔徑增加,并且電流過大導(dǎo)致氧化膜缺陷。隨氧化時間的增加,氧化膜厚度先增加后減小。最佳電流密度為3.6 A/dm2,陽極氧化時間30 min,此條件下獲得的氧化膜均勻,氧化膜與基體結(jié)合緊密且耐腐蝕相對較高。
[Abstract]:With the Al-4%Si alloy as the research object, the effects of current density and oxidation time effect of anodic oxide films on aluminum silicon alloy, and to determine the appropriate membrane preparation process. By thermal shock, salt fog corrosion test of oxide film thickness and microstructure were analyzed. The results showed that with the increase of current density, the pore size increased and oxide film. The current lead oxide film defects. With the increase of oxidation time, the thickness of the oxide film increases firstly and then decreases. The optimal current density is 3.6 A/dm2, anodic oxidation time 30 min, get this under the condition of uniform film, film and substrate closely and corrosion resistance is relatively high.
【作者單位】: 沈陽工業(yè)大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院;
【基金】:遼寧省特聘教授支持計劃的資助項目(2013029906)
【分類號】:TG174.4
【參考文獻】
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