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壓電陶瓷銀片外觀缺陷檢測(cè)的研究

發(fā)布時(shí)間:2021-11-22 10:56
  壓電陶瓷是一種具有壓電性能的多晶體壓電材料,能夠?qū)C(jī)械能和電能互相轉(zhuǎn)換的信息功能陶瓷材料。其具有耐高溫、耐腐蝕、價(jià)格低廉、易于批量生產(chǎn)等優(yōu)點(diǎn),已被廣泛應(yīng)用于工業(yè)、軍事、航天、醫(yī)學(xué)以及其他電子領(lǐng)域。壓電陶瓷是通過(guò)配料、混合磨細(xì)、預(yù)燒等十幾道工序制造而成,加工工序多且復(fù)雜。在制造過(guò)程中因?yàn)轭A(yù)燒和燒結(jié)成瓷等加工方法不當(dāng)會(huì)在壓電陶瓷上產(chǎn)生斑點(diǎn)、氣孔、凹坑、裂紋、制品變形、漏瓷以及劃痕等缺陷。這些缺陷會(huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)品質(zhì)量,使壓電陶瓷性能劣化,所以對(duì)壓電陶瓷進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)是非常有必要的。但是目前對(duì)壓電陶瓷銀片外觀缺陷檢測(cè)還停留在人工檢測(cè)階段,人工檢測(cè)工件分揀速度慢,效率低,檢測(cè)精度也達(dá)不到要求,質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果得不到保障,不能滿(mǎn)足現(xiàn)代化工業(yè)生產(chǎn)智能化和自動(dòng)化的需要。本文通過(guò)對(duì)壓電陶瓷的介紹,以及目前對(duì)壓電陶瓷缺陷檢測(cè)的分析,針對(duì)壓電陶瓷銀片缺陷特征,提出了一種壓電陶瓷銀片外觀缺陷系統(tǒng)檢測(cè)方法,實(shí)現(xiàn)對(duì)壓電陶瓷銀片殘缺、多種表面缺陷以及同心度不良的有效識(shí)別檢測(cè)。本文系統(tǒng)的研制包括硬件系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與軟件算法的分析與處理,確定了光源、工業(yè)相機(jī)、鏡頭以及檢測(cè)托板,并設(shè)計(jì)了一種相機(jī)安裝支架,研制出一套完整的在線(xiàn)檢測(cè)硬件... 

【文章來(lái)源】:華南理工大學(xué)廣東省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】:65 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】:碩士

【部分圖文】:

壓電陶瓷銀片外觀缺陷檢測(cè)的研究


壓電陶瓷

缺陷檢測(cè),壓電陶瓷,硬件系統(tǒng),同心度


個(gè)人經(jīng)驗(yàn)和熟練程度,在持續(xù)不斷的生產(chǎn)線(xiàn)上,檢測(cè)工人長(zhǎng),很難保證檢測(cè)質(zhì)量的準(zhǔn)確性,且人眼難以判斷面積較小的缺陷和同心度是否達(dá)到要求,產(chǎn)生誤判。新的需求要求系統(tǒng)銀片外觀缺陷的自動(dòng)識(shí)別,檢測(cè)識(shí)別出不良品,并能提高檢陷檢測(cè)要求:壓電陶瓷銀片質(zhì)地非常脆,很容易產(chǎn)生殘缺和程多且復(fù)雜,壓電陶瓷銀片表面容易產(chǎn)生空洞、劃痕以及斑不相同,要求系統(tǒng)能檢測(cè)出有殘缺和破損的壓電陶瓷銀片,2m 。檢測(cè)要求:同心度是指內(nèi)圓與外圓之間圓心的距離,壓電陶與銀層的同心度,本系統(tǒng)要求同心度要大于 0.98。統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)

模塊圖,圖像顯示,中品,同心度


圖像顯示模塊圖

【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
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[4]最小二乘法和迭代法圓曲線(xiàn)擬合[J]. 陳明晶,方源敏,陳杰.  測(cè)繪科學(xué). 2016(01)
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博士論文
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碩士論文
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[3]基于機(jī)器視覺(jué)的光纖插芯同心度檢測(cè)研究[D]. 張凱.中國(guó)計(jì)量學(xué)院 2016
[4]圖像非局部均值濾波去噪和修復(fù)算法的改進(jìn)研究[D]. 楊帆.南昌航空大學(xué) 2015
[5]線(xiàn)陣CCD工業(yè)相機(jī)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)與研究[D]. 黎紹鑫.南京理工大學(xué) 2012
[6]圖像邊緣檢測(cè)技術(shù)的研究[D]. 潘夏英.西安科技大學(xué) 2011
[7]數(shù)字圖像邊緣檢測(cè)技術(shù)的研究[D]. 張潔.合肥工業(yè)大學(xué) 2009
[8]中值濾波技術(shù)在圖像處理中的應(yīng)用研究[D]. 朱志恩.東北大學(xué) 2008
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本文編號(hào):3511547

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