無鉛弛豫鐵電陶瓷結(jié)構(gòu)調(diào)控與儲能性能研究
發(fā)布時間:2021-06-11 11:10
電子工業(yè)系統(tǒng)集成化和小型化的快速發(fā)展,迫切需要應(yīng)用于脈沖功率和混合動力車等領(lǐng)域的儲能元器件具有高功率密度,快速充放電和高儲能密度等優(yōu)異性能。介電陶瓷因功率密度高、溫度穩(wěn)定性好等優(yōu)點而成為研究熱點,但較低的儲能密度卻限制了介電陶瓷在儲能領(lǐng)域的應(yīng)用。本文選取BaTiO3(簡稱BT),Na0.5Bi0.5TiO3(NBT)和Ba1-xSrx TiO3(BST)三種典型的鐵電陶瓷作為研究對象,系統(tǒng)地研究了外離子摻雜對鐵電陶瓷相結(jié)構(gòu)、微觀形貌、介電、鐵電和儲能性能的影響。利用離子摻雜固溶,將三種典型的鐵電體陶瓷轉(zhuǎn)變?yōu)槌谠ヨF電陶瓷,降低其剩余極化和矯頑場,同時提升陶瓷的電擊穿場強,進而有效增強陶瓷的弛豫特性,最終獲得較高的儲能密度和效率。采用傳統(tǒng)的固相反應(yīng)制備了(1-x)BaTiO3-xCaSnO3(x=0.05,0.10,0.15,0.20)無鉛儲能陶瓷,研究了CaSnO3摻雜對...
【文章來源】:西南大學(xué)重慶市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:80 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
文獻中不同儲能裝置的能量密度與功率密度的關(guān)系[11]
西南大學(xué)工程碩士學(xué)位論文4圖1.2四種典型電介質(zhì)材料的電滯回線[11];(a)線性電介質(zhì);(b)鐵電體;(c)弛豫鐵電體;(d)反鐵電體Fig.1.2Hysteresisloopsoffourtypicaldielectric[11]s;(a)Lineardielectrics;(b)Ferroelectrics;(c)Relaxorferroelectrics;(d)Antiferroelectrics圖1.2(a)描述的是線性電介質(zhì)材料的極化強度與電場的關(guān)系,可以表示為:=0E(1-5)將式子(1-5)代入(1-4)中,計算可以得到線性電介質(zhì)的儲能密度,為:=120E2(1-6)由上式(1-6)可知,對于這種線性電介質(zhì)材料而言,提高儲能密度的關(guān)鍵是提高其介電常數(shù)和擊穿場強。近些年被廣泛研究的線性電介質(zhì)主要有SrTiO3,CaTiO3和TiO2等[22,23]。這些線性電介質(zhì)陶瓷材料一般都具有中等擊穿場強以及低介電損耗等優(yōu)點,但是由于自身的最大極化較低,儲能密度不高,因此不適合作為高儲能電容器材料加以應(yīng)用。鐵電體一般是指具有自發(fā)極化,且自發(fā)極化能在外電場的作用下發(fā)生轉(zhuǎn)向的一類材料。圖1.2(b)為鐵電體材料的極化強度與電場的關(guān)系。不同于線性電介質(zhì),鐵電體P-E曲線呈非線性特征。除了極化值隨外電場變化較大外,最大極化也比
西南大學(xué)工程碩士學(xué)位論文17圖3.1(a)BT-xCS陶瓷的XRD圖譜和(b)拉曼光譜圖Fig.3.1(a)XRDpatternsand(b)RamanspectrumofBT-xCSceramics一般來說,根據(jù)Goldschmidt容差因子τ可以估計晶格中的摻雜位置[30,87-89],公式如下:τ=+√2(+)(3-1)式中,τ為容差因子,RA、RB和RO分別代表A位離子、B位離子和氧離子的半徑。通常,如果容差因子接近1,則結(jié)構(gòu)接近理想的鈣鈦礦結(jié)構(gòu)[25]。Ba2+、Ti4+、Ca2+、Sn4+和O2-的半徑分別為1.61、0.61、1.34、0.69和1.35[30,55,90-94]。通過公式(3-1)分別計算Ca2+在A位和B位,Sn4+在A位和B位的容差因子τ及半徑差比(r/r%),結(jié)果見表3.1。結(jié)果表明Ca2+在A位和Sn4+在B位時的τ值接近1,而且Ca2+和Sn4+的半徑分別接近Ba2+和Ti4+的半徑,所以Ca2+更有可能占據(jù)A位[95]和Sn4+占據(jù)B位。這些結(jié)果與Y.Sun等人[49]的結(jié)果一致。鈣鈦礦中的離子取代可以用下面的等式來描述:→+(3-2)22→+2(3-3)
本文編號:3224424
【文章來源】:西南大學(xué)重慶市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:80 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
文獻中不同儲能裝置的能量密度與功率密度的關(guān)系[11]
西南大學(xué)工程碩士學(xué)位論文4圖1.2四種典型電介質(zhì)材料的電滯回線[11];(a)線性電介質(zhì);(b)鐵電體;(c)弛豫鐵電體;(d)反鐵電體Fig.1.2Hysteresisloopsoffourtypicaldielectric[11]s;(a)Lineardielectrics;(b)Ferroelectrics;(c)Relaxorferroelectrics;(d)Antiferroelectrics圖1.2(a)描述的是線性電介質(zhì)材料的極化強度與電場的關(guān)系,可以表示為:=0E(1-5)將式子(1-5)代入(1-4)中,計算可以得到線性電介質(zhì)的儲能密度,為:=120E2(1-6)由上式(1-6)可知,對于這種線性電介質(zhì)材料而言,提高儲能密度的關(guān)鍵是提高其介電常數(shù)和擊穿場強。近些年被廣泛研究的線性電介質(zhì)主要有SrTiO3,CaTiO3和TiO2等[22,23]。這些線性電介質(zhì)陶瓷材料一般都具有中等擊穿場強以及低介電損耗等優(yōu)點,但是由于自身的最大極化較低,儲能密度不高,因此不適合作為高儲能電容器材料加以應(yīng)用。鐵電體一般是指具有自發(fā)極化,且自發(fā)極化能在外電場的作用下發(fā)生轉(zhuǎn)向的一類材料。圖1.2(b)為鐵電體材料的極化強度與電場的關(guān)系。不同于線性電介質(zhì),鐵電體P-E曲線呈非線性特征。除了極化值隨外電場變化較大外,最大極化也比
西南大學(xué)工程碩士學(xué)位論文17圖3.1(a)BT-xCS陶瓷的XRD圖譜和(b)拉曼光譜圖Fig.3.1(a)XRDpatternsand(b)RamanspectrumofBT-xCSceramics一般來說,根據(jù)Goldschmidt容差因子τ可以估計晶格中的摻雜位置[30,87-89],公式如下:τ=+√2(+)(3-1)式中,τ為容差因子,RA、RB和RO分別代表A位離子、B位離子和氧離子的半徑。通常,如果容差因子接近1,則結(jié)構(gòu)接近理想的鈣鈦礦結(jié)構(gòu)[25]。Ba2+、Ti4+、Ca2+、Sn4+和O2-的半徑分別為1.61、0.61、1.34、0.69和1.35[30,55,90-94]。通過公式(3-1)分別計算Ca2+在A位和B位,Sn4+在A位和B位的容差因子τ及半徑差比(r/r%),結(jié)果見表3.1。結(jié)果表明Ca2+在A位和Sn4+在B位時的τ值接近1,而且Ca2+和Sn4+的半徑分別接近Ba2+和Ti4+的半徑,所以Ca2+更有可能占據(jù)A位[95]和Sn4+占據(jù)B位。這些結(jié)果與Y.Sun等人[49]的結(jié)果一致。鈣鈦礦中的離子取代可以用下面的等式來描述:→+(3-2)22→+2(3-3)
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