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粉末壓片-X射線熒光光譜法測定石墨中的雜質(zhì)組分

發(fā)布時間:2021-05-21 14:09
  采用了非破壞性、無需化學消解試樣的固體粉末壓片-X射線熒光光譜法測定石墨中8種雜質(zhì)組分SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO、MnO、P2O5、TiO2的質(zhì)量分數(shù)。使用國家標準物質(zhì)(GBW03118-03120,ZBM150-154)建立了校準曲線,優(yōu)化了粉末壓片制樣條件。測定石墨標準物質(zhì)各組分的相對標準偏差(RSD)在0.8%~4.86%之間,測定值與標準值相符,且與電感耦合等離子發(fā)射光譜的對比測定結(jié)果一致。 

【文章來源】:化學世界. 2020,61(02)CSCD

【文章頁數(shù)】:6 頁

【文章目錄】:
1 實驗部分
    1.1 儀器與試劑
    1.2 固體粉末壓片制樣
    1.3 標準樣品
2 結(jié)果與討論
    2.1 m(樣品)∶m(微晶纖維素)比對熒光強度的影響
    2.2 研磨時間對熒光強度的影響
    2.3 校準曲線
    2.4 方法檢出限
    2.5 精密度實驗
    2.6 準確度實驗
3 結(jié)論


【參考文獻】:
期刊論文
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本文編號:3199843

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