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碳化物改性石墨材料的強(qiáng)流電子束發(fā)射和收集特性研究

發(fā)布時(shí)間:2021-04-02 12:07
  陰極和收集極分別作為強(qiáng)流電子束起點(diǎn)和終點(diǎn),對高功率微波源的性能具有重要影響。石墨是較好的爆炸發(fā)射陰極和強(qiáng)流電子束收集極材料,但其仍存在易釋氣、易造成系統(tǒng)碳污染等缺點(diǎn),從而影響了石墨陰極和收集極在高功率微波源中的性能。目前,從材料角度改善石墨陰極和收集極性能的研究很少,對陰極表面材料成分和微觀形影響其爆炸電子發(fā)射過程及性能的研究較少,對這一問題的認(rèn)識仍然不夠清晰。同時(shí),高功率微波技術(shù)的發(fā)展對石墨陰極和收集極的性能和使用壽命提出了更高的要求。本文選擇用SiC、TiC和TaC三種不同成分的碳化物對石墨陰極進(jìn)行表面改性,且通過控制改性工藝得到不同微觀形貌的碳化物改性石墨陰極,研究碳化物改性石墨陰極表面材料成分及微觀形貌對陰極爆炸發(fā)射性能的影響規(guī)律,為石墨基介質(zhì)改性陰極的發(fā)展提供參考。此外,對TiC和TaC改性石墨材料收集強(qiáng)流電子束的性能進(jìn)行研究,為提高收集極性能和拓展收集極材料提供參考。采用化學(xué)氣相滲透法實(shí)現(xiàn)了不同形貌SiC改性石墨材料的可控制備。研究表明,調(diào)整CO氣體濃度(或分壓)可控制SiC晶體在石墨基體表面生長形態(tài),調(diào)整反應(yīng)溫度可控制SiC晶須長短、疏密和SiC顆粒大小。降低系統(tǒng)總壓,或... 

【文章來源】:國防科技大學(xué)湖南省 211工程院校 985工程院校

【文章頁數(shù)】:215 頁

【學(xué)位級別】:博士

【部分圖文】:

碳化物改性石墨材料的強(qiáng)流電子束發(fā)射和收集特性研究


一種典型HPM源的結(jié)構(gòu)示意圖[1]

示意圖,陰極,吸附氣,介質(zhì)


國防科技大學(xué)研究生院博士學(xué)位論文第2頁高功率微波的產(chǎn)生需要10kA量級的強(qiáng)流相對論電子束,電流密度一般超過1kA/cm2量級,因此HPM源中廣泛使用強(qiáng)流發(fā)射能力較好的爆炸發(fā)射陰極[2,3]。1.1.1爆炸電子發(fā)射機(jī)理宏觀上看,陰極表面是規(guī)則、平整的,但其微觀上卻存在許多不規(guī)則微結(jié)構(gòu)。圖1.2是陰極表面可能存在的各種不規(guī)則微結(jié)構(gòu)的示意圖[4]。對這些不規(guī)則微結(jié)構(gòu)進(jìn)行綜合歸納后可以看出,陰極表面具有幾何的微觀不均勻性(微凸起、晶格邊界微顆粒、孔洞、表面缺陷)和成分的微觀不均勻性(夾雜介質(zhì)、介質(zhì)薄膜、吸附氣體、油污等)[4]。幾何和成分的微觀不均勻性都會導(dǎo)致陰極表面電物理特性出現(xiàn)不均勻性,且陰極爆炸電子發(fā)射機(jī)理與其表面微結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。圖1.2陰極表面不規(guī)則微結(jié)構(gòu)的示意圖[4]:(a)微凸起,(b)夾雜介質(zhì),(c)介質(zhì)薄膜,(d)吸附氣體,(e)晶格邊界,(f)微顆粒,(g)油污,(h)微凸起破壞后孔洞,(i)表面缺陷傳統(tǒng)的金屬陰極場致爆炸發(fā)射理論認(rèn)為,陰極表面的增強(qiáng)場致發(fā)射和加熱導(dǎo)致的微點(diǎn)氣化爆炸是陰極等離子體形成和強(qiáng)流電子束產(chǎn)生的主要機(jī)制。場致發(fā)射是電子強(qiáng)電場中穿過金屬-真空邊界位壘的隧道效應(yīng)[4]。只有陰極表面實(shí)際電場強(qiáng)度大于電子穿過金屬-真空邊界位壘所需場強(qiáng)時(shí),場致發(fā)射才可以發(fā)生。產(chǎn)生場致發(fā)射所需的電場強(qiáng)度E0如式(1.1)所示,me、、e分別為電子質(zhì)量、普朗克常數(shù)和電子電荷。E0主要與材料功函數(shù)φ有關(guān),材料功函數(shù)越低,則其產(chǎn)生場發(fā)射所需電場強(qiáng)度越校

示意圖,金屬,表面,示意圖


國防科技大學(xué)研究生院博士學(xué)位論文第3頁1320(2)eE=me(1.1)場發(fā)射電流密度由Fowler-Nordheim(F-N)公式?jīng)Q定[4]:()()232020ABexpEvyjtyE=(1.2)式中,j、E、φ分別指場發(fā)射電流密度、陰極表面實(shí)際電場強(qiáng)度、材料功函數(shù),A和B為常數(shù),()20ty≈1.1,()7021.44100.95Evy×=。對于場致爆炸發(fā)射陰極,當(dāng)其與陽極形成二極管后,陰極表面實(shí)際電場強(qiáng)度E的表達(dá)式如式(1.3)所示:12dE=ββUd(1.3)式中,Ud為二極管電壓,d為陰陽極間距,1β為二極管宏觀場增強(qiáng)因子;2β為陰極表面發(fā)射微點(diǎn)處的微觀場增強(qiáng)因子。宏觀場增強(qiáng)因子主要由陰陽極幾何形狀和二極管結(jié)構(gòu)來確定;而微觀場增強(qiáng)因子的確定要依賴于發(fā)射微點(diǎn)類型。通常,陰極發(fā)射面上存在大量的微凸起,如圖1.3所示,這些微凸起高度約為1μm,半高直徑約為0.1μm[5]。經(jīng)估算,微凸起的微觀場增強(qiáng)因子可達(dá)100~1000[6],微凸起的分布密度約為104個(gè)/cm2范圍內(nèi)[5]。因此,當(dāng)陰極表面加載高電場時(shí),微凸起處的微觀場強(qiáng)將明顯聚焦,其大小可增加至宏觀場強(qiáng)的數(shù)百倍。圖1.3金屬表面微凸起場增強(qiáng)示意圖[5]半導(dǎo)體的場致發(fā)射與純金屬沒有本質(zhì)上的區(qū)別,關(guān)于半導(dǎo)體場發(fā)射的理論研究仍然沿襲傳統(tǒng)的F-N理論,但需要考慮外電場的滲透作用和表面態(tài)影響[7]。外電場透入深度與電子濃度的平方根成反比,對于金屬,由于其電子濃度較大(1022個(gè)/cm3量級),電場透入深度小于一個(gè)原子層厚度,因此可以忽略不計(jì);對于半導(dǎo)體,當(dāng)電子濃度在1014~1018個(gè)/cm3范圍內(nèi)時(shí),電場透入深度在納米到亞微米的范圍,即達(dá)到幾十乃至幾千個(gè)原子層的深度。此時(shí),電場將透入半導(dǎo)體內(nèi)部,并在

【參考文獻(xiàn)】:
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本文編號:3115250

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