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氫氣中微量氧、氮雜質的質譜分析方法

發(fā)布時間:2021-03-27 05:48
  文章介紹了一種利用Evolution高分辨率質譜儀測量氫中微量氧、氮的方法,該方法以氫中氧、氮氣體標準物質為參比樣品,通過不同壓力進行線性擬合修正后獲得較理想的測量結果。方法簡單,可操作性強,充分討論了進樣壓力、漏率等因素的影響,進一步提高了測量結果的準確性。 

【文章來源】:計量與測試技術. 2020,47(08)

【文章頁數(shù)】:4 頁

【部分圖文】:

氫氣中微量氧、氮雜質的質譜分析方法


高純H2對應不同進樣壓力的計算值與測量值的偏差

變化曲線,漏率,容器,因子


貯樣容器壓力隨進樣時間的變化曲線

【參考文獻】:
期刊論文
[1]氫-氘體系的氘豐度質譜分析技術[J]. 石磊,李金英,慕俊娟,紀存喜,胡石林,紀存興,李中平.  核化學與放射化學. 2009(03)
[2]氣相色譜法測定氘氣中痕量的氧、氮[J]. 韋桂歡,張洪彬,宗昭星,龍慶云.  低溫與特氣. 2008(05)
[3]氦放電色譜法測定高純氫中微量氧、氮雜質[J]. 熊德權.  低溫與特氣. 2005(02)
[4]分壓強質譜計校準裝置的研制[J]. 李得天,李正海,馮焱,張滌新,張建軍,許珩,龔月莉,李莉.  真空科學與技術. 2001(03)



本文編號:3103004

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