XRF和LA-ICPMS測定硫化物熔片中的主次量元素
本文關鍵詞:XRF和LA-ICPMS測定硫化物熔片中的主次量元素
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【摘要】:采用高純HNO_3為氧化劑代替?zhèn)鹘y(tǒng)的氧化劑,以GeO_2為玻璃化試劑,建立了一種簡單、高效的硫化物熔融玻璃片的前處理方法。XRF和LA-ICPMS分析結(jié)果表明,相對于粉末壓片法,熔片法制備的樣品具有更好的均一性和可靠性。3種硫化物國家一級標準物質(zhì)的XRF和LA-ICPMS主次量元素(Si,Al,Fe,Mg,K,Ca,Na,Mn,Cu,Zn)分析測試結(jié)果均與推薦值相吻合(Ti缺少推薦值),測定誤差都在允許范圍內(nèi),XRF三次熔片測試結(jié)果的精密度RSD5.6%;LA-ICPMS 15次測試結(jié)果精密度RSD3%。表明建立的硫化物熔融玻璃片的前處理方法可較好的應用于XRF和LA-ICPMS分析硫化物中的主次量元素。
【作者單位】: 同濟大學海洋地質(zhì)國家重點實驗室;中國地質(zhì)大學地質(zhì)過程與礦產(chǎn)資源國家重點實驗室;
【基金】:國家自然科學基金項目(41273030,41322023,41573015,41376049,41225020)資助
【分類號】:TQ171.12;O657.34
【正文快照】: 2.中國地質(zhì)大學地質(zhì)過程與礦產(chǎn)資源國家重點實驗室,湖北武漢430074引言目前,硫化物的測定通常采用化學法[1],電感耦合等離子體法[2]等。但這些方法分析流程較長,所需試劑多,處理過程較為繁瑣。X-熒光光譜分析儀(XRF)是一種常用的主量元素分析儀器,具有樣品前處理簡單,快速、準
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,本文編號:1142895
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