本文關(guān)鍵詞：鈀和鉑中痕量雜質(zhì)元素錠狀固體標(biāo)準(zhǔn)樣品制備的研究（英文）

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【摘要】：詳細(xì)介紹了制備鈀和鉑錠狀固體標(biāo)準(zhǔn)樣品的實驗方法。該固體標(biāo)樣可用于測定固體樣品的電弧/火花發(fā)射光譜、火花燒蝕發(fā)射光譜和輝光放電質(zhì)譜(GD-MS)等儀器分析方法。在標(biāo)準(zhǔn)樣品的制備過程中,首先將含有33種待測雜質(zhì)元素的鈀或鉑溶液進(jìn)行沉淀和共沉淀得到"貯備"粉末,然后將粉末與99.999%純金屬鈀或鉑進(jìn)行熔煉,從而獲得雜質(zhì)元素含量在(5~10)×10-6的固體標(biāo)準(zhǔn)樣品。部分雜質(zhì)元素在沉淀和共沉淀過程、熱處理環(huán)節(jié)會發(fā)生損失,在最終得到的錠中,鈀標(biāo)準(zhǔn)樣品有25個元素、鉑標(biāo)準(zhǔn)樣品有26個元素得到定量回收,發(fā)生污染的元素主要包括金、硼、鐵和硅。
【作者單位】： 賽本金屬公司;
【關(guān)鍵詞】： 標(biāo)準(zhǔn)樣品 儀器分析 痕量雜質(zhì) 污染
【分類號】：TQ421.31;O657
【正文快照】： With the continued miniaturization of electronic components and sensors,the purity of the metals used in the fabrication of these devices becomes ever important.Smaller and smaller amounts of impurities can be problematic therefore the accurate quantific

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本文編號：641260