基于量子點-分子印跡聚合物在分析檢測中的應(yīng)用探討
發(fā)布時間：2024-01-19 16:20
本文從量子點的物理特性,吸收和發(fā)射光譜的穩(wěn)定性展開,逐步理解分子印跡聚合物的基本定義及其在各個研究領(lǐng)域的進(jìn)展情況。量子點的熒光敏感性與分子印跡聚合物的特異識別性能結(jié)合,分別介紹了Mn的ZnS、CdSe、CdTe等量子點的應(yīng)用實例。
【文章頁數(shù)】：2 頁
【文章目錄】：
1 量子點
2 分子印跡聚合物
3 分子印跡聚合物的研究進(jìn)展
4 量子點分子印跡熒光材料
5 結(jié)束語
本文編號：3880112
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1 量子點
2 分子印跡聚合物
3 分子印跡聚合物的研究進(jìn)展
4 量子點分子印跡熒光材料
5 結(jié)束語
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