脈沖激光燒蝕制備納米硅晶粒過程中穩(wěn)定晶核大小研究
發(fā)布時(shí)間:2020-03-05 15:34
【摘要】:采用蒙特卡羅方法,模擬了脈沖激光燒蝕制備納米硅晶粒的動(dòng)力學(xué)過程.在模擬中采用了成核長(zhǎng)大模型,對(duì)室溫下的硅晶粒成核過程中穩(wěn)定晶核所含硅原子數(shù)目進(jìn)行了研究.經(jīng)過大量的計(jì)算以及與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的比較,發(fā)現(xiàn)當(dāng)穩(wěn)定晶核所含硅原子數(shù)目為6時(shí),計(jì)算得出的納米硅晶粒平均尺寸分布規(guī)律與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)符合較好.
【圖文】:
了研究納米Si晶粒成核過程,在模擬過程中對(duì)穩(wěn)定硅晶核所含的硅原子數(shù)目n進(jìn)行了多種假設(shè),n在2~10取值分別進(jìn)行計(jì)算,計(jì)算得出在燒蝕點(diǎn)下方2cm處平行于羽輝軸的水平方向上納米硅晶粒尺寸分布情況.經(jīng)過大量計(jì)算以及與實(shí)驗(yàn)比較,發(fā)現(xiàn)當(dāng)穩(wěn)定晶核所含硅原子數(shù)目為6時(shí),理論計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)符合的較好.由于篇幅限制,這里給出n為2和6時(shí)2種典型情況下的計(jì)算結(jié)果,如圖2b和圖2c所示.a.實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù);b、c.模擬計(jì)算出的納米硅晶粒平均尺寸大小,分別對(duì)應(yīng)穩(wěn)定晶核所含硅原子數(shù)目為2和6.圖2納米硅晶粒平均尺寸分布Fig.2Averagesizedistributionofsiliconnanoparticles由圖2可見,當(dāng)穩(wěn)定晶核所含硅原子數(shù)目為6時(shí),計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)符合較好.納米硅晶粒的平均尺寸隨著到靶的距離的增加不斷增大,在2.0cm處達(dá)到最大,隨后隨著距離的增加晶粒平均尺寸開始逐漸減小.而且,壓強(qiáng)對(duì)晶粒的平均尺寸有明顯影響,壓強(qiáng)增加,晶粒的平均尺寸增加,50Pa時(shí)晶粒的平均尺寸達(dá)到最大,,之后壓強(qiáng)增加晶粒的平均尺寸開始減小,但是晶粒平均尺寸的最大值都出現(xiàn)在2.0cm處.計(jì)算中用硅晶粒所含硅原子數(shù)來表示硅晶粒的大小,而實(shí)驗(yàn)中測(cè)量的硅晶粒尺寸單位是nm,兩者之間是非線性關(guān)系,這是造成理論計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)之間差異的重要原因.575
本文編號(hào):2585039
【圖文】:
了研究納米Si晶粒成核過程,在模擬過程中對(duì)穩(wěn)定硅晶核所含的硅原子數(shù)目n進(jìn)行了多種假設(shè),n在2~10取值分別進(jìn)行計(jì)算,計(jì)算得出在燒蝕點(diǎn)下方2cm處平行于羽輝軸的水平方向上納米硅晶粒尺寸分布情況.經(jīng)過大量計(jì)算以及與實(shí)驗(yàn)比較,發(fā)現(xiàn)當(dāng)穩(wěn)定晶核所含硅原子數(shù)目為6時(shí),理論計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)符合的較好.由于篇幅限制,這里給出n為2和6時(shí)2種典型情況下的計(jì)算結(jié)果,如圖2b和圖2c所示.a.實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù);b、c.模擬計(jì)算出的納米硅晶粒平均尺寸大小,分別對(duì)應(yīng)穩(wěn)定晶核所含硅原子數(shù)目為2和6.圖2納米硅晶粒平均尺寸分布Fig.2Averagesizedistributionofsiliconnanoparticles由圖2可見,當(dāng)穩(wěn)定晶核所含硅原子數(shù)目為6時(shí),計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)符合較好.納米硅晶粒的平均尺寸隨著到靶的距離的增加不斷增大,在2.0cm處達(dá)到最大,隨后隨著距離的增加晶粒平均尺寸開始逐漸減小.而且,壓強(qiáng)對(duì)晶粒的平均尺寸有明顯影響,壓強(qiáng)增加,晶粒的平均尺寸增加,50Pa時(shí)晶粒的平均尺寸達(dá)到最大,,之后壓強(qiáng)增加晶粒的平均尺寸開始減小,但是晶粒平均尺寸的最大值都出現(xiàn)在2.0cm處.計(jì)算中用硅晶粒所含硅原子數(shù)來表示硅晶粒的大小,而實(shí)驗(yàn)中測(cè)量的硅晶粒尺寸單位是nm,兩者之間是非線性關(guān)系,這是造成理論計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)之間差異的重要原因.575
本文編號(hào):2585039
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