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波長(zhǎng)檢測(cè)型表面等離子體共振傳感器對(duì)硫堇電聚合成膜的原位分析

發(fā)布時(shí)間:2018-06-07 22:38

  本文選題:表面等離子體共振 + 電化學(xué)聚合; 參考:《高等學(xué);瘜W(xué)學(xué)報(bào)》2017年04期


【摘要】:利用波長(zhǎng)檢測(cè)型表面等離子體共振(SPR)傳感器對(duì)硫堇在金膜表面的電化學(xué)聚合成膜過程進(jìn)行了跟蹤分析.結(jié)果表明,在固定入射角下SPR共振波長(zhǎng)隨循環(huán)伏安掃描周數(shù)的增加而線性紅移,表明聚硫堇膜的生長(zhǎng)是勻速的;掃描100周后共振波長(zhǎng)紅移總量為96.6 nm.對(duì)該實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行理論擬合,得出聚硫堇膜的厚度約為71 nm.聚硫堇膜在酸性緩沖液中的電化學(xué)活性很高,其電化學(xué)反應(yīng)過程受擴(kuò)散控制,在一個(gè)完整的循環(huán)伏安掃描過程中SPR共振波長(zhǎng)的變化完全可逆,說明聚硫堇膜的氧化反應(yīng)和還原反應(yīng)是一對(duì)可逆過程.與還原態(tài)聚硫堇膜相比,氧化態(tài)聚硫堇膜對(duì)應(yīng)的SPR共振波長(zhǎng)較大,說明氧化態(tài)聚硫堇膜折射率高.
[Abstract]:The results show that the SPR resonant wavelength is uniform at fixed angle of incidence , and the total amount of the resonant wavelength is 96 . 6 nm after 100 weeks of scanning . The results of this experiment are theoretically fitted to show that the thickness of the polythionine film is about 71 nm . The oxidation reaction and reduction reaction of the polythionine film are completely reversible . The SPR resonance wavelength corresponding to the oxidized polythionine film is larger than that of the reduced polysulfide .
【作者單位】: 中國(guó)科學(xué)院電子學(xué)研究所傳感技術(shù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;中國(guó)科學(xué)院大學(xué);國(guó)民核生化災(zāi)害防護(hù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】:國(guó)家“九七三”計(jì)劃項(xiàng)目(批準(zhǔn)號(hào):2015CB352100) 國(guó)家自然科學(xué)基金(批準(zhǔn)號(hào):61377064,61675203) 中國(guó)科學(xué)院科研裝備研制項(xiàng)目(批準(zhǔn)號(hào):YZ201508)資助~~
【分類號(hào)】:O657.1

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本文編號(hào):1993091


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