本文關(guān)鍵詞：一種基于熱釋電效應(yīng)的X射線熒光分析譜儀

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【摘要】：利用熱釋電晶體實(shí)現(xiàn)了一個(gè)X射線激發(fā)源,并以此激發(fā)源和高能量分辨率的硅漂移探測(cè)器構(gòu)建了一個(gè)X射線熒光分析譜儀。首先通過(guò)分析計(jì)算熱釋電晶體厚度和靶厚度對(duì)產(chǎn)生X射線的影響選定了激發(fā)源的設(shè)計(jì)參數(shù);然后測(cè)量了激發(fā)源發(fā)射的X射線本底,其能量范圍在1~27keV,包含有Cu和Ta的特征X射線,最大強(qiáng)度在每秒3 000個(gè)計(jì)數(shù)以上,對(duì)本底的測(cè)量同時(shí)顯示出譜儀的探測(cè)器部分對(duì)Cu的8.05keV特征峰的分辨率達(dá)到210eV,具有很高的能量分辨率;最后使用該譜儀測(cè)試了Fe,Ti和Cr等三種單質(zhì)樣品和高鈦玄武巖樣品,測(cè)試結(jié)果表明該譜儀可以有效的分析出樣品的元素成分。由于這種X射線熒光分析譜儀的各組成部分體積都很小,進(jìn)一步便攜化后非常適合于非破壞、現(xiàn)場(chǎng)和快速的元素分析場(chǎng)合。
【作者單位】： 中國(guó)科學(xué)院高能物理研究所粒子天體物理重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;中國(guó)科學(xué)院大學(xué);
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(11105161)資助
【分類號(hào)】：O657.34
【正文快照】： 引言X射線熒光分析作為一種成熟的元素分析方法已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)和建筑等各個(gè)領(lǐng)域[1]。X射線熒光分析儀有光譜儀和能譜儀兩種類型,其中能譜儀通過(guò)測(cè)量X射線熒光光子的能量來(lái)鑒別元素成分,具有設(shè)備更小、更簡(jiǎn)單、無(wú)需制備樣品等優(yōu)點(diǎn),尤其適用于非破壞、快速和現(xiàn)場(chǎng)分

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本文編號(hào)：1191521