ZnO和GO/ZnO的制備及光催化降解羅丹明B模擬廢水研究
發(fā)布時間:2021-11-02 04:40
隨著科技的不斷進(jìn)步,工業(yè)的發(fā)展也突飛猛進(jìn),因此,需要尋找一些新型的材料來支撐工業(yè)的持續(xù)發(fā)展。在工業(yè)迅速發(fā)展的過程中會有大量廢水的產(chǎn)生,對人類的生存和發(fā)展以及環(huán)境造成很大的負(fù)面影響。工業(yè)廢水中常見的污染源是染料廢水,因其難以降解、生物毒性高,一直被看做是難降解的廢水。因此,研究一種材料或者方法來解決廢水污染問題,成為一個熱門的研究領(lǐng)域。近年來,ZnO光催化氧化技術(shù),在新型的廢水處理技術(shù)方面得到了快速的發(fā)展,而ZnO材料因其具有獨特的晶體結(jié)構(gòu)和物理特性,使得ZnO薄膜材料同時具有良好的光電、壓敏、壓電、氣敏等特性,又因其價格低廉、無毒、化學(xué)穩(wěn)定性好、反應(yīng)條件溫和而成為了人們的研究熱點。但是由于ZnO的光譜響應(yīng)區(qū)間僅在紫外區(qū),所以其太陽能的利用率很低;ZnO光照產(chǎn)生的電子-空穴分離效率比較低,以上這兩點均降低了ZnO光催化劑的光催化性能。選用性能獨特的氧化石墨烯材料與氧化鋅納米材料復(fù)合對其進(jìn)行改性,拓寬氧化鋅材料的光譜響應(yīng)區(qū)間至可見區(qū)、降低電子-空穴的復(fù)合率,為光催化技術(shù)的研究奠定了重要的基礎(chǔ)。本論文采用簡單的均勻沉淀法,分別成功合成了ZnO以及Zn02薄膜樣品、ZnO以及氧化石墨烯與氧化鋅...
【文章來源】:河南大學(xué)河南省
【文章頁數(shù)】:61 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
圖2-1不同娘燒溫度處理下薄膜樣品的AFM圖像??(A處理溫度80’C;?B處理溫度150
實驗的測試條件為:載荷1N,滑動速度為300?mm/min。微摩擦磨損試驗機(jī)可W對??制備的薄膜樣品通過壓/磨的方式評價其強(qiáng)度、抗磨的性能。??圖2-3可W看出氧化巧薄膜經(jīng)過不同的溫度鍛燒后,80‘C下處理的Zn化薄膜在7?h??后摩擦系數(shù)仍然能很好的保持在0.1,說明Zn〇2薄膜樣品能夠抵御長時間的摩擦;150°C、??200’C、300‘C制備的薄膜材料其耐磨性能較差,耐磨壽命只有幾分鐘,這可能是因為隨??著溫度的升高,過氧化巧逐漸向氧化巧晶體轉(zhuǎn)化,在股燒溫度為150’C、200’C、300’C??時,得到的薄膜組成是過氧化鋒和氧化巧的混合物,而導(dǎo)致摩擦學(xué)性能較差;然而在??450’C鍛燒下的薄膜樣品又具有一定的耐磨性能,耐磨壽命為33?min,這可能主要是薄??膜的組成己經(jīng)是結(jié)晶性較好的氧化鋒晶體的原因。摩擦學(xué)研究結(jié)果表明,通過這種簡單??的均勻沉淀方法合成的ZnO薄膜在摩擦學(xué)方面有一定的應(yīng)用前景。??2.?4.?2電學(xué)性能??W四探針法測定薄膜樣品的電學(xué)特性,四探針法是最常用的方法,其操作簡單、準(zhǔn)??確度高
????AV??圖2-5?45CTC下薄膜樣品的電性能圖??由圖2-4示可W看出,80’C溫度處理下的Zn化薄膜樣品其電性能較差,圖中結(jié)果??不是一條導(dǎo)電良好的直線,說明制備的Zn化薄膜的電學(xué)性能較差,而隨著熱處理溫度??的升高到450’C,過氧化巧薄膜在向氧化巧薄膜轉(zhuǎn)變,由圖2-5中可L:i>看出,有ZnO晶??體存在的薄膜表現(xiàn)了很好的電性能,四探針測試結(jié)果得到的曲線,為較平滑的直線。ZnO??薄膜的電學(xué)性能測試表明
本文編號:3471355
【文章來源】:河南大學(xué)河南省
【文章頁數(shù)】:61 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
圖2-1不同娘燒溫度處理下薄膜樣品的AFM圖像??(A處理溫度80’C;?B處理溫度150
實驗的測試條件為:載荷1N,滑動速度為300?mm/min。微摩擦磨損試驗機(jī)可W對??制備的薄膜樣品通過壓/磨的方式評價其強(qiáng)度、抗磨的性能。??圖2-3可W看出氧化巧薄膜經(jīng)過不同的溫度鍛燒后,80‘C下處理的Zn化薄膜在7?h??后摩擦系數(shù)仍然能很好的保持在0.1,說明Zn〇2薄膜樣品能夠抵御長時間的摩擦;150°C、??200’C、300‘C制備的薄膜材料其耐磨性能較差,耐磨壽命只有幾分鐘,這可能是因為隨??著溫度的升高,過氧化巧逐漸向氧化巧晶體轉(zhuǎn)化,在股燒溫度為150’C、200’C、300’C??時,得到的薄膜組成是過氧化鋒和氧化巧的混合物,而導(dǎo)致摩擦學(xué)性能較差;然而在??450’C鍛燒下的薄膜樣品又具有一定的耐磨性能,耐磨壽命為33?min,這可能主要是薄??膜的組成己經(jīng)是結(jié)晶性較好的氧化鋒晶體的原因。摩擦學(xué)研究結(jié)果表明,通過這種簡單??的均勻沉淀方法合成的ZnO薄膜在摩擦學(xué)方面有一定的應(yīng)用前景。??2.?4.?2電學(xué)性能??W四探針法測定薄膜樣品的電學(xué)特性,四探針法是最常用的方法,其操作簡單、準(zhǔn)??確度高
????AV??圖2-5?45CTC下薄膜樣品的電性能圖??由圖2-4示可W看出,80’C溫度處理下的Zn化薄膜樣品其電性能較差,圖中結(jié)果??不是一條導(dǎo)電良好的直線,說明制備的Zn化薄膜的電學(xué)性能較差,而隨著熱處理溫度??的升高到450’C,過氧化巧薄膜在向氧化巧薄膜轉(zhuǎn)變,由圖2-5中可L:i>看出,有ZnO晶??體存在的薄膜表現(xiàn)了很好的電性能,四探針測試結(jié)果得到的曲線,為較平滑的直線。ZnO??薄膜的電學(xué)性能測試表明
本文編號:3471355
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