隨著低壓差線性調(diào)整器(LDO)芯片在航天領(lǐng)域的應用越來越廣泛,對測試驗證環(huán)節(jié)的要求也越來越高,因此測試開發(fā)人員也面臨著更大的挑戰(zhàn),因此如何構(gòu)建高效準確的LDO通用測試平臺是研究的重點和難點。基于對低壓差線性調(diào)整器的電路結(jié)構(gòu)、工作原理、關(guān)鍵測試指標的詳盡了解,結(jié)合航天型號用LDO芯片的指標特點,對現(xiàn)有的LDO測試方法提出了更為全面精準的測試軟硬件解決方案。該LDO通用測試平臺具備更高的測試覆蓋率和工作效率,能夠完成不同類型LDO的性能測試。

【文章頁數(shù)】：3 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 LDO的主要特點和發(fā)展趨勢
    1.1 LDO的電路結(jié)構(gòu)
    1.2 LDO的主要性能參數(shù)
    1.3 LDO的發(fā)展趨勢
2 航天應用特點
3 LDO通用測試平臺的構(gòu)建
    3.1 LDO通用測試平臺的硬件設(shè)計
        3.1.1 自動測試系統(tǒng)的選擇
        3.1.2 適配器的設(shè)計
    3.2 LDO測試軟件設(shè)計
        3.2.1 LDO關(guān)鍵參數(shù)測試方法的優(yōu)化
        3.2.2 軟件工程概念的引入
        3.2.3 應用自動測試系統(tǒng)的自帶軟件
4 平臺構(gòu)建的實施效果
5 結(jié)語



本文編號：3956772