優(yōu)化電源完整性及可靠性設(shè)計(jì)可以有效提高高速數(shù)字電路在高速、高負(fù)載及極端環(huán)境下工作的性能及可靠性。通過對(duì)開關(guān)式點(diǎn)電源及LDO （低壓差線型穩(wěn)壓器）兩種供電方式在星載高速數(shù)字電路中的應(yīng)用特點(diǎn)進(jìn)行分析,總結(jié)出針對(duì)兩種電源在電源完整性上的設(shè)計(jì)準(zhǔn)則,量化相應(yīng)測(cè)試指標(biāo),通過對(duì)開關(guān)類電源LTM4644及LDO型電源對(duì)信號(hào)完整性設(shè)計(jì)及電源芯片選型進(jìn)行研究?jī)?yōu)化,為星載高速數(shù)字電路電源完整性設(shè)計(jì)及測(cè)試提供部分參考及依據(jù)。 

【文章來源】：航天標(biāo)準(zhǔn)化. 2020,(02)

【文章頁數(shù)】：4 頁

【部分圖文】：

正負(fù)過沖測(cè)試波形

電源平面內(nèi)縮

數(shù)字電源層與模擬電源層的分割


本文編號(hào)：3276712