采用商用現(xiàn)貨（COTS）產(chǎn)品可以有效降低小衛(wèi)星研制成本,但是需要抗單粒子翻轉(zhuǎn)（SEU）設(shè)計提高其可靠性。為此,文章提出一種重要數(shù)據(jù)（如程控指令、程控數(shù)據(jù)塊、相對程控指令、有效載荷重要數(shù)據(jù)、熱控數(shù)據(jù)）抗SEU方法,在地面完成不同長度的重要數(shù)據(jù)的糾錯編碼設(shè)計并組幀上注,在數(shù)據(jù)使用前或周期檢錯時刻星上軟件完成重要數(shù)據(jù)的糾錯解碼。SEU故障注入試驗表明:該方法可以有效檢錯并糾錯,運算復(fù)雜度低,相對傳統(tǒng)的三模冗余方法可以節(jié)約大量存儲空間。 

【文章來源】：航天器工程. 2020,29(05)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：5 頁

【文章目錄】：
1 重要數(shù)據(jù)抗SEU方法
    1.1 地面糾錯編碼
        (1)監(jiān)督位位數(shù)的確定。
        (2)監(jiān)督位的計算。
    1.2 星上檢錯糾錯
2 測試結(jié)果及分析
    2.1 測試結(jié)果
    2.2 性能分析
3 結(jié)束語


【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3177066