宇航用非氣密性倒裝焊器件耐濕技術(shù)研究
發(fā)布時(shí)間:2021-03-07 17:22
隨著微電子器件的不斷發(fā)展,電子器件的工作頻率和功率越來越高,電子器件封裝技術(shù)也日新月異。在宇航用電子器件中,為減小宇航電子產(chǎn)品的體積和重量,FPGA(Field Programmable Gate Array)已廣泛用于各類型號(hào)的宇航產(chǎn)品中,而目前FPGA產(chǎn)品常用的封裝形式為非氣密性倒裝焊封裝技術(shù),為了滿足宇航用FPGA產(chǎn)品在宇航級(jí)惡劣環(huán)境下的應(yīng)用,因此對(duì)倒裝焊器件進(jìn)行氣密性防護(hù)成為目前亟需解決的研究方向。本文著重從仿真技術(shù)和可靠性試驗(yàn)兩部分研究Parylene薄膜在非氣密性倒裝焊器件的耐濕防護(hù)技術(shù)上的應(yīng)用,提出采取Parylene膜改善倒裝焊焊點(diǎn)的應(yīng)力應(yīng)變分布及隔絕外部環(huán)境的水汽侵蝕,來提高非氣密性倒裝焊器件的長期可靠性。首先通過對(duì)目前倒裝焊的涂層防護(hù)技術(shù)進(jìn)行研究和篩選,確定采用Parylene材料對(duì)器件進(jìn)行敷形涂覆的技術(shù)研究方案,通過研究沉積Parylene材料的工藝參數(shù),對(duì)倒裝焊器件整體結(jié)構(gòu)進(jìn)行一致性涂覆。通過ANSYS結(jié)構(gòu)仿真和有限元分析方法,研究熱循環(huán)載荷下芯片尺寸和Parylene厚度對(duì)焊點(diǎn)熱疲勞壽命的影響;然后結(jié)合工程化應(yīng)用,對(duì)倒裝焊器件涂覆不同厚度的Parylene薄膜...
【文章來源】:中國運(yùn)載火箭技術(shù)研究院北京市
【文章頁數(shù)】:66 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
非氣密性陶瓷倒裝芯片封裝結(jié)構(gòu)
中國航天科技集團(tuán)公司碩士學(xué)位論文 反應(yīng)固化:通過化學(xué)反應(yīng)使涂層材料進(jìn)行固化,通常使用于多組覆涂層材料對(duì)水汽擴(kuò)散有著良好的阻擋作用,敷形涂覆技術(shù)已經(jīng)的目的是為了保護(hù)電子器件免受外界灰塵、潮濕水汽的侵蝕破壞耐溶劑侵蝕以及固定多余物等優(yōu)點(diǎn)。目前,由于電路尺寸逐漸減效應(yīng)越來越顯著,因此敷形涂層防護(hù)技術(shù)的應(yīng)用場(chǎng)合也越來越多
趙文中:宇航用非氣密性倒裝焊器件耐濕技術(shù)研究2 Parylene 防護(hù)涂層技術(shù)研究現(xiàn)狀Parylene 材料是由 Willianf gorham 于二十世紀(jì)五十年代發(fā)明,二十世紀(jì)六十年美國 Union Carbide 公司開發(fā)研制處的的分子級(jí)涂層材料[26]。Parylene 材料可以進(jìn)行沉積生長,生長過程中無需任何催化劑,制備工藝簡單,并且制得 Parylen勻、透明、無應(yīng)力,是目前最有效的耐濕防潮涂層材料,因此 Parylene 材料廣航空航天、電子器件等領(lǐng)域[27-30]。2.1 Parylene 材料本征特性Parylene 是 Parylene 系列化合物的商品名,學(xué)名為聚對(duì)苯撐二甲基,縮寫為 P分子上的取代基不同,Parylene 可以分為 Parylene C,Parylene N 和 Parylene D 不同類型的 Parylene 性能也不盡相同。不同類型的 Parylene 涂層分子結(jié)構(gòu)示意特性如圖 1.3 所示。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]軍用倒裝焊集成電路的發(fā)展和評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)綜述[J]. 王一剛,李錕. 無線互聯(lián)科技. 2015(11)
[2]殘余應(yīng)力對(duì)混合組裝BGA熱循環(huán)可靠性影響[J]. 田艷紅,賀曉斌,杭春進(jìn). 機(jī)械工程學(xué)報(bào). 2014(02)
[3]宇航用非密封陶瓷倒裝芯片封裝FPGA質(zhì)量保證技術(shù)分析[J]. 張權(quán),曾英廉,祝偉明. 質(zhì)量與可靠性. 2013(02)
[4]聚一氯對(duì)二甲基苯膜的制備與光學(xué)特性[J]. 李東,劉劍虹,高彩云,魏勇. 齊齊哈爾大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版). 2012(02)
[5]基于子模型法的焊點(diǎn)熱應(yīng)力分析[J]. 崔海坡,程恩清. 材料導(dǎo)報(bào). 2011(24)
[6]Parylene高頻電路防護(hù)工藝研究進(jìn)展[J]. 仝曉剛. 電子工藝技術(shù). 2011(05)
[7]層疊封裝熱疲勞壽命的有限元法分析[J]. 任超,羅成,謝秀娟,丁俊,徐文正. 電子元件與材料. 2011(06)
[8]倒裝焊器件的密封技術(shù)[J]. 李欣燕,李秀林,丁榮崢. 電子與封裝. 2010(09)
[9]倒裝焊技術(shù)及應(yīng)用[J]. 任春嶺,魯凱,丁榮崢. 電子與封裝. 2009(03)
[10]Parylene薄膜及其在MEMS中的應(yīng)用[J]. 王亞軍,劉景全,楊春生,沈修成,郭忠元. 微納電子技術(shù). 2008(07)
博士論文
[1]電子封裝中金屬間化合物力學(xué)性能的研究及焊點(diǎn)可靠性分析[D]. 楊雪霞.太原理工大學(xué) 2013
[2]高可靠性電子封裝中防潮薄膜技術(shù)的研究[D]. 黃衛(wèi)東.中國科學(xué)院研究生院(上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所) 2003
碩士論文
[1]E系列電子封裝產(chǎn)品的熱性能和熱疲勞分析與設(shè)計(jì)[D]. 高察.北京工業(yè)大學(xué) 2013
[2]典型PBGA封裝熱—結(jié)構(gòu)分析及其優(yōu)化[D]. 馬瀟.西安電子科技大學(xué) 2013
[3]微互連焊點(diǎn)電遷移失效機(jī)理研究[D]. 秦敬凱.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2012
[4]先進(jìn)塑料封裝的濕熱機(jī)械可靠性研究[D]. 劉海龍.華南理工大學(xué) 2011
[5]倒裝焊焊點(diǎn)的可靠性分析[D]. 傅冰.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2006
本文編號(hào):3069509
【文章來源】:中國運(yùn)載火箭技術(shù)研究院北京市
【文章頁數(shù)】:66 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
非氣密性陶瓷倒裝芯片封裝結(jié)構(gòu)
中國航天科技集團(tuán)公司碩士學(xué)位論文 反應(yīng)固化:通過化學(xué)反應(yīng)使涂層材料進(jìn)行固化,通常使用于多組覆涂層材料對(duì)水汽擴(kuò)散有著良好的阻擋作用,敷形涂覆技術(shù)已經(jīng)的目的是為了保護(hù)電子器件免受外界灰塵、潮濕水汽的侵蝕破壞耐溶劑侵蝕以及固定多余物等優(yōu)點(diǎn)。目前,由于電路尺寸逐漸減效應(yīng)越來越顯著,因此敷形涂層防護(hù)技術(shù)的應(yīng)用場(chǎng)合也越來越多
趙文中:宇航用非氣密性倒裝焊器件耐濕技術(shù)研究2 Parylene 防護(hù)涂層技術(shù)研究現(xiàn)狀Parylene 材料是由 Willianf gorham 于二十世紀(jì)五十年代發(fā)明,二十世紀(jì)六十年美國 Union Carbide 公司開發(fā)研制處的的分子級(jí)涂層材料[26]。Parylene 材料可以進(jìn)行沉積生長,生長過程中無需任何催化劑,制備工藝簡單,并且制得 Parylen勻、透明、無應(yīng)力,是目前最有效的耐濕防潮涂層材料,因此 Parylene 材料廣航空航天、電子器件等領(lǐng)域[27-30]。2.1 Parylene 材料本征特性Parylene 是 Parylene 系列化合物的商品名,學(xué)名為聚對(duì)苯撐二甲基,縮寫為 P分子上的取代基不同,Parylene 可以分為 Parylene C,Parylene N 和 Parylene D 不同類型的 Parylene 性能也不盡相同。不同類型的 Parylene 涂層分子結(jié)構(gòu)示意特性如圖 1.3 所示。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]軍用倒裝焊集成電路的發(fā)展和評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)綜述[J]. 王一剛,李錕. 無線互聯(lián)科技. 2015(11)
[2]殘余應(yīng)力對(duì)混合組裝BGA熱循環(huán)可靠性影響[J]. 田艷紅,賀曉斌,杭春進(jìn). 機(jī)械工程學(xué)報(bào). 2014(02)
[3]宇航用非密封陶瓷倒裝芯片封裝FPGA質(zhì)量保證技術(shù)分析[J]. 張權(quán),曾英廉,祝偉明. 質(zhì)量與可靠性. 2013(02)
[4]聚一氯對(duì)二甲基苯膜的制備與光學(xué)特性[J]. 李東,劉劍虹,高彩云,魏勇. 齊齊哈爾大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版). 2012(02)
[5]基于子模型法的焊點(diǎn)熱應(yīng)力分析[J]. 崔海坡,程恩清. 材料導(dǎo)報(bào). 2011(24)
[6]Parylene高頻電路防護(hù)工藝研究進(jìn)展[J]. 仝曉剛. 電子工藝技術(shù). 2011(05)
[7]層疊封裝熱疲勞壽命的有限元法分析[J]. 任超,羅成,謝秀娟,丁俊,徐文正. 電子元件與材料. 2011(06)
[8]倒裝焊器件的密封技術(shù)[J]. 李欣燕,李秀林,丁榮崢. 電子與封裝. 2010(09)
[9]倒裝焊技術(shù)及應(yīng)用[J]. 任春嶺,魯凱,丁榮崢. 電子與封裝. 2009(03)
[10]Parylene薄膜及其在MEMS中的應(yīng)用[J]. 王亞軍,劉景全,楊春生,沈修成,郭忠元. 微納電子技術(shù). 2008(07)
博士論文
[1]電子封裝中金屬間化合物力學(xué)性能的研究及焊點(diǎn)可靠性分析[D]. 楊雪霞.太原理工大學(xué) 2013
[2]高可靠性電子封裝中防潮薄膜技術(shù)的研究[D]. 黃衛(wèi)東.中國科學(xué)院研究生院(上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所) 2003
碩士論文
[1]E系列電子封裝產(chǎn)品的熱性能和熱疲勞分析與設(shè)計(jì)[D]. 高察.北京工業(yè)大學(xué) 2013
[2]典型PBGA封裝熱—結(jié)構(gòu)分析及其優(yōu)化[D]. 馬瀟.西安電子科技大學(xué) 2013
[3]微互連焊點(diǎn)電遷移失效機(jī)理研究[D]. 秦敬凱.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2012
[4]先進(jìn)塑料封裝的濕熱機(jī)械可靠性研究[D]. 劉海龍.華南理工大學(xué) 2011
[5]倒裝焊焊點(diǎn)的可靠性分析[D]. 傅冰.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2006
本文編號(hào):3069509
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