基于TMR-CUDA容錯架構(gòu)的星載GPU抗SEU技術(shù)研究
【學(xué)位單位】:電子科技大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位年份】:2018
【中圖分類】:V446
【文章目錄】:
摘要
abstract
第一章 緒論
1.1 課題背景與意義
1.1.1 課題背景
1.1.2 星載GPU的可行性分析
1.1.3 課題研究意義
1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.2.1 SEU效應(yīng)發(fā)展
1.2.2 GPU容錯技術(shù)研究現(xiàn)狀
1.3 課題主要工作
1.4 論文的結(jié)構(gòu)安排
第二章 SEU效應(yīng)和容錯技術(shù)基本理論
2.1 SEU介紹
2.1.1 SEU產(chǎn)生機(jī)制
2.1.2 SEU效應(yīng)對星載處理器的影響
2.2 容錯技術(shù)介紹
2.2.1 容軟錯誤的基本原理
2.2.2 硬件容錯技術(shù)
2.2.3 軟件容錯技術(shù)
2.2.3.1 進(jìn)程級容錯
2.2.3.2 線程級容錯
2.2.3.3 指令級容錯
2.2.3.4 源代碼級容錯
2.3 本章小結(jié)
第三章 GPGPU體系結(jié)構(gòu)與CUDA編程模型
3.1 統(tǒng)一架構(gòu)的GPU體系結(jié)構(gòu)
3.2 CUDA編程模型與GPU結(jié)構(gòu)映射
3.2.1 軟件體系
3.2.2 CUDA編程模型
3.2.3 CUDA存儲模型
3.2.4 GPU結(jié)構(gòu)映射模型
3.3 GPGPU-SIM模擬器與線程執(zhí)行模式
3.4 本章小結(jié)
第四章 星載GPU抗SEU技術(shù)研究
4.1 基于TMR-CUDA的GPGPU容錯技術(shù)分析
4.1.1 基于時間冗余的KERNEL級容錯方案
4.1.2 基于多GPU的KERNEL級容錯方案
4.1.3 基于VLIW調(diào)度器的指令級并行容錯方案
4.1.4 基于計(jì)算資源的BLOCK級容錯方案
4.1.5 基于線程束WARP級容錯方案
4.2 比較與投票算法設(shè)計(jì)
4.3 本章小結(jié)
第五章 星載GPU容錯性能和可靠性分析
5.1 實(shí)驗(yàn)平臺設(shè)計(jì)
5.1.1 實(shí)驗(yàn)環(huán)境與平臺參數(shù)設(shè)置
5.1.2 基準(zhǔn)程序測試
5.2 實(shí)驗(yàn)性能分析
5.3 可靠性評估方法研究與結(jié)果分析
5.3.1 軟件容錯方案的可靠性評估模型
5.3.2 故障注入與結(jié)果分析
5.4 本章小結(jié)
第六章 總結(jié)與展望
6.1 全文總結(jié)
6.2 后續(xù)工作展望
致謝
參考文獻(xiàn)
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號:2876617
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