發(fā)布時間：2021-08-12 21:15

　　室內(nèi)三維相機檢校場可以用于檢校量測型相機或非量測型相機的內(nèi)方位元素、光學(xué)畸變,以及多相機組合拼接參數(shù)。受溫度變化影響,檢校場觀測標(biāo)志載體發(fā)生熱脹冷縮,觀測標(biāo)志發(fā)生相對位置變化,影響相機檢校精度。通過采用經(jīng)緯儀工業(yè)測量系統(tǒng)對檢校場觀測標(biāo)志進行高精度測量,在不同溫度條件下對檢校場開展周期性觀測,得出檢校場標(biāo)志點載體鋼筋混凝土和金屬掛桿的熱膨脹系數(shù),根據(jù)待檢校相機的類型,計算出檢校場需要達到的精度要求,確定檢校場坐標(biāo)溫度改正閾值。 

【文章來源】：測繪工程. 2020,29(04)CSCD

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

觀測標(biāo)志與室內(nèi)三維相機檢校場

本文依托兩臺Leica的0.5″級TM5100A電子經(jīng)緯儀,依靠望遠(yuǎn)鏡內(nèi)互瞄用內(nèi)覘標(biāo)進行相對定向,并通過測量基準(zhǔn)尺完成絕對定向,建立測站坐標(biāo)系,如圖2所示。系統(tǒng)定向完成后,測量檢校目標(biāo)在該系統(tǒng)觀測坐標(biāo)系下三維坐標(biāo),并可實時給出物點坐標(biāo)和測量點點位中誤差,10 m范圍內(nèi)目標(biāo)觀測精度在0.020～0.050 mm[15]。

【參考文獻】：
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碩士論文
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本文編號：3339089