發(fā)布時(shí)間：2021-01-03 03:48

　　建筑物立面測(cè)量對(duì)細(xì)部表達(dá)的要求高,采用傳統(tǒng)手段測(cè)量困難大,基于三維激光掃描技術(shù)的特點(diǎn),將三維激光掃描技術(shù)運(yùn)用到建筑物立面測(cè)量中,制定了一套切實(shí)可行的立面測(cè)量技術(shù)流程,并介紹了一種點(diǎn)云分組約束拼接的方法,最后對(duì)立面測(cè)量成果分別進(jìn)行特征點(diǎn)、線的精度評(píng)定,研究表明了三維激光掃描技術(shù)在建筑物立面圖測(cè)量中的適用性。 

【文章來(lái)源】：城市勘測(cè). 2020年02期

【文章頁(yè)數(shù)】：4 頁(yè)

【部分圖文】：

點(diǎn)云拼接效果圖

立面圖制作

利用三維激光掃描進(jìn)行點(diǎn)云數(shù)據(jù)采集的方式主要有兩種:一是引入外部參考,每站都掃描三個(gè)以上控制點(diǎn)坐標(biāo),直接利用控制點(diǎn)坐標(biāo)將每站掃描點(diǎn)云數(shù)據(jù)配準(zhǔn)到外部參考系下;另一種是利用掃描儀相鄰測(cè)站點(diǎn)云數(shù)據(jù)間的重疊點(diǎn)云數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行配準(zhǔn),再利用控制測(cè)量坐標(biāo)點(diǎn)與整體點(diǎn)云模型完成坐標(biāo)轉(zhuǎn)換。本文主要介紹的是第二種方式,首先在測(cè)區(qū)布設(shè)導(dǎo)線進(jìn)行控制測(cè)量,外業(yè)掃描時(shí)在控制點(diǎn)上架設(shè)標(biāo)靶掃描,掃描時(shí)保證相鄰兩站有一定的重疊度,且同時(shí)要進(jìn)行紋理影像的采集,獲取的影像用于后期點(diǎn)云模型的紋理映射,便于建筑外立面上的細(xì)節(jié)特征判讀,具體技術(shù)流程如圖1所示:3 點(diǎn)云處理方案

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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