本文關(guān)鍵詞：基于UVM的一種總線監(jiān)控電路的驗(yàn)證技術(shù)研究

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【摘要】：芯片設(shè)計(jì)復(fù)雜度不斷加大,驗(yàn)證在研發(fā)周期中占據(jù)著比設(shè)計(jì)更多的工作量,同時(shí)由于研發(fā)速度加快,芯片研發(fā)周期不斷縮小,有效縮短驗(yàn)證時(shí)間、提高驗(yàn)證效率成為芯片研發(fā)的重中之重,亦成為亟待解決的問(wèn)題,受到業(yè)界的高度重視�；诖�,本文重點(diǎn)研究基于UVM的一種總線監(jiān)控電路的驗(yàn)證技術(shù)�；趯�(duì)總線監(jiān)控電路驗(yàn)證的需求分析及不同應(yīng)用場(chǎng)景,制定了總線監(jiān)控電路的驗(yàn)證策略和驗(yàn)證方法,完成了驗(yàn)證平臺(tái)的邏輯結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。借助sequence機(jī)制、phase機(jī)制等UVM關(guān)鍵技術(shù),使用System Verilog驗(yàn)證語(yǔ)言設(shè)計(jì)了序列發(fā)生部件、驅(qū)動(dòng)器部件以及監(jiān)控器部件等驗(yàn)證單元,驗(yàn)證單元集成的驗(yàn)證平臺(tái)可將測(cè)試激勵(lì)的產(chǎn)生與驅(qū)動(dòng)分離,減少了驗(yàn)證平臺(tái)出錯(cuò)的幾率,實(shí)現(xiàn)了激勵(lì)注入、驗(yàn)證結(jié)果對(duì)比打印、驗(yàn)證環(huán)境自動(dòng)運(yùn)行、待測(cè)設(shè)計(jì)的行為精確控制等功能。依據(jù)總線監(jiān)控電路的功能點(diǎn)分布及提取結(jié)果,設(shè)置了基本資源測(cè)試、總線監(jiān)控消息輪詢功能測(cè)試以及詳細(xì)功能測(cè)試等四類共計(jì)102條驗(yàn)證用例。使用定向數(shù)值測(cè)試與隨機(jī)測(cè)試相結(jié)合的方法對(duì)總線監(jiān)控電路仿真驗(yàn)證,自動(dòng)生成覆蓋率報(bào)告,報(bào)告分析結(jié)果表明,總線監(jiān)控電路的驗(yàn)證平臺(tái)功能正確,設(shè)計(jì)符合要求�？偩�監(jiān)控電路的功能覆蓋率達(dá)到了100%,代碼覆蓋率達(dá)到了97.03%,達(dá)到了驗(yàn)證所要求的指標(biāo)。相比傳統(tǒng)驗(yàn)證平臺(tái),驗(yàn)證用例的設(shè)置減少了30%,驗(yàn)證時(shí)間減少了約20%,本驗(yàn)證平臺(tái)可復(fù)用到系統(tǒng)級(jí)或其他子系統(tǒng)的驗(yàn)證平臺(tái),可有效地減少驗(yàn)證時(shí)間,提升工作效率。
【關(guān)鍵詞】：UVM 驗(yàn)證方法學(xué) Syetem Verilog 驗(yàn)證平臺(tái)
【學(xué)位授予單位】：西安電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號(hào)】：TN407
【目錄】：

• 摘要5-6
• ABSTRACT6-11
• 縮略語(yǔ)對(duì)照表11-14
• 第一章 緒論14-20
• 1.1 選題背景及意義14-15
• 1.2 驗(yàn)證技術(shù)發(fā)展及現(xiàn)狀15-18
• 1.2.1 驗(yàn)證方法學(xué)發(fā)展現(xiàn)狀15-17
• 1.2.2 驗(yàn)證語(yǔ)言發(fā)展現(xiàn)狀17-18
• 1.3 論文主要工作及內(nèi)容安排18-20
• 第二章 UVM關(guān)鍵技術(shù)分析20-28
• 2.1 UVM樹(shù)形結(jié)構(gòu)20-21
• 2.2 UVM的類21-23
• 2.3 sequence機(jī)制23-24
• 2.4 phase機(jī)制24-26
• 2.5 factory機(jī)制26-27
• 2.6 本章小結(jié)27-28
• 第三章 總線監(jiān)控電路的UVM驗(yàn)證平臺(tái)設(shè)計(jì)28-56
• 3.1 總線監(jiān)控電路驗(yàn)證的需求分析28-30
• 3.2 總線監(jiān)控電路驗(yàn)證方案30-34
• 3.2.1 驗(yàn)證的策略30-33
• 3.2.2 驗(yàn)證平臺(tái)邏輯結(jié)構(gòu)33-34
• 3.3 驗(yàn)證平臺(tái)單元設(shè)計(jì)34-53
• 3.3.1 事務(wù)級(jí)數(shù)據(jù)部件設(shè)計(jì)34-39
• 3.3.2 序列發(fā)送器部件設(shè)計(jì)39-43
• 3.3.3 驅(qū)動(dòng)器部件設(shè)計(jì)43-45
• 3.3.4 監(jiān)控器部件設(shè)計(jì)45-46
• 3.3.5 代理器部件設(shè)計(jì)46-48
• 3.3.6 接口設(shè)計(jì)48-49
• 3.3.7 參考模型設(shè)計(jì)49-51
• 3.3.8 記分板設(shè)計(jì)51-53
• 3.4 驗(yàn)證平臺(tái)集成53-54
• 3.5 驗(yàn)證用例創(chuàng)建54-55
• 3.6 本章小結(jié)55-56
• 第四章 仿真驗(yàn)證與報(bào)告分析56-70
• 4.1 驗(yàn)證功能點(diǎn)設(shè)置56-57
• 4.2 基本資源測(cè)試57-58
• 4.3 總線監(jiān)控消息輪詢功能測(cè)試58-62
• 4.4 總線監(jiān)控詳細(xì)功能測(cè)試62-66
• 4.5 覆蓋率報(bào)告66-68
• 4.6 本章小結(jié)68-70
• 第五章 總結(jié)與展望70-72
• 5.1 總結(jié)70-71
• 5.2 展望71-72
• 參考文獻(xiàn)72-74
• 致謝74-76
• 作者簡(jiǎn)介76-77

【相似文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：697714