基于遷移學(xué)習(xí)的集成電路熱點(diǎn)檢測(cè)方法研究
【文章頁(yè)數(shù)】:77 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
圖1-1集成電路版圖設(shè)計(jì)示意圖
第一章緒論第一章緒論1.1研究背景在二十一世紀(jì)的今天,集成電路已經(jīng)悄無(wú)聲息地滲透進(jìn)了人們生產(chǎn)生活的各個(gè)領(lǐng)域。無(wú)論是現(xiàn)在生活不可或缺的智能手機(jī)家電還是方便快捷的交通,或是國(guó)防軍工科研等都離不開(kāi)集成電路的使用。集成電路[1]從簡(jiǎn)單的電子管開(kāi)始到當(dāng)下的超高速CPU,其在誕生后的五十年里....
圖1-2光學(xué)鄰近效應(yīng)對(duì)光刻圖形的影響
電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文刻圖形產(chǎn)生畸變,質(zhì)量嚴(yán)重下降。如圖1-2所示,由于光學(xué)鄰近效應(yīng)的存在,圖中的光刻圖形產(chǎn)生了邊角圓化、線端縮短、線寬偏差不均等嚴(yán)重失真情況[4]。外面的虛線框?yàn)樵镜陌鎴D設(shè)計(jì),中間實(shí)線陰影部分為實(shí)際所得圖形。這些可能出現(xiàn)的圖形失真現(xiàn)象會(huì)給集成電路帶來(lái)電學(xué)特性....
圖1-3包含熱點(diǎn)的集成電路設(shè)計(jì)版圖
電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文刻圖形產(chǎn)生畸變,質(zhì)量嚴(yán)重下降。如圖1-2所示,由于光學(xué)鄰近效應(yīng)的存在,圖中的光刻圖形產(chǎn)生了邊角圓化、線端縮短、線寬偏差不均等嚴(yán)重失真情況[4]。外面的虛線框?yàn)樵镜陌鎴D設(shè)計(jì),中間實(shí)線陰影部分為實(shí)際所得圖形。這些可能出現(xiàn)的圖形失真現(xiàn)象會(huì)給集成電路帶來(lái)電學(xué)特性....
圖2-6LeNet-5卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)[42]
第二章熱點(diǎn)檢測(cè)和深度遷移學(xué)習(xí)的像素網(wǎng)格組成。當(dāng)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中至少有一層采用了卷積運(yùn)算,而不是矩陣乘法運(yùn)算時(shí),就可以成為卷積網(wǎng)絡(luò)。卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)自1998年由LeCun提出以來(lái)發(fā)展出了一系列性能優(yōu)異的網(wǎng)絡(luò)模型,并且已經(jīng)在圖像分類(lèi)、人臉識(shí)別等很多領(lǐng)域取得了優(yōu)異的表現(xiàn)。圖2-6是基于卷積神經(jīng)....
本文編號(hào):4004305
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