為將低等級探測器應(yīng)用于宇航等高可靠性應(yīng)用環(huán)境,對探測器進(jìn)行可靠性環(huán)境試驗(yàn)考核至關(guān)重要。本文提出了一種探測器的熱真空實(shí)驗(yàn)方法,對多種型號(hào)星載探測器進(jìn)行熱真空環(huán)境考核試驗(yàn),通過對比熱真空環(huán)境試驗(yàn)前后探測器的相對光譜響應(yīng)率、暗電流、制冷器驅(qū)動(dòng)電流、探測器制冷特性等參數(shù)的變化,分析各型號(hào)探測器熱真空環(huán)境的適應(yīng)性,從而在早期暴露可能存在質(zhì)量及其他缺陷的產(chǎn)品,篩選出性能最優(yōu)產(chǎn)品用于宇航產(chǎn)品。試驗(yàn)結(jié)果表明,參試的探測器在熱真空環(huán)境試驗(yàn)考核和篩選之后的各項(xiàng)性能指標(biāo)滿足設(shè)計(jì)要求,具有很好的可靠性,可以滿足航天載荷應(yīng)用需求。

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【部分圖文】：

圖5S13735試驗(yàn)前后光譜響應(yīng)率相對變化率

由于探測器在實(shí)際環(huán)境工作時(shí)不需要加偏壓，所以在測量時(shí)給探測器加0mV偏壓，同時(shí)加38mV偏壓的目的是為了將背景輻射降到1%以下，減小溫度對探測器測量的影響。通過公式(1)計(jì)算得到S13735、G12180和G121833種探測器的試驗(yàn)前后的光譜響應(yīng)率的相對變化率如圖5、圖....

圖6G12180和G12183試驗(yàn)前后光譜響應(yīng)率相對變化率

紅外探測器制冷器制冷驅(qū)動(dòng)電流在室溫22℃條件下進(jìn)行測試（注：編號(hào)1～5表示5只InGaAsG12180探測器，編號(hào)6～9表示4只InGaAsG12183探測器），測試結(jié)果及變化率如圖10所示。圖7S13735探測器試驗(yàn)前后暗電流值

圖8G12180探測器試驗(yàn)前后暗電流值

圖7S13735探測器試驗(yàn)前后暗電流值圖9G12183探測器0mV和38mV偏壓試驗(yàn)前后暗電流值

圖1浴盆曲線

實(shí)踐證明大多數(shù)設(shè)備的故障率是時(shí)間的函數(shù)，典型故障曲線稱之為浴盆曲線（Bathtubcurve），如圖1所示。浴盆曲線具有明顯的階段性，失效率隨使用時(shí)間變化分為3個(gè)階段：早期失效期（Ⅰ）、偶然失效期（Ⅱ）和耗損失效期（Ⅲ）[6,9]。在I以前是早期失效階段，主要由制造、裝配、質(zhì)量....

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