發(fā)布時間：2024-04-15 02:27

　　為將低等級探測器應用于宇航等高可靠性應用環(huán)境,對探測器進行可靠性環(huán)境試驗考核至關重要。本文提出了一種探測器的熱真空實驗方法,對多種型號星載探測器進行熱真空環(huán)境考核試驗,通過對比熱真空環(huán)境試驗前后探測器的相對光譜響應率、暗電流、制冷器驅動電流、探測器制冷特性等參數的變化,分析各型號探測器熱真空環(huán)境的適應性,從而在早期暴露可能存在質量及其他缺陷的產品,篩選出性能最優(yōu)產品用于宇航產品。試驗結果表明,參試的探測器在熱真空環(huán)境試驗考核和篩選之后的各項性能指標滿足設計要求,具有很好的可靠性,可以滿足航天載荷應用需求。

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【部分圖文】：

圖5S13735試驗前后光譜響應率相對變化率

由于探測器在實際環(huán)境工作時不需要加偏壓，所以在測量時給探測器加0mV偏壓，同時加38mV偏壓的目的是為了將背景輻射降到1%以下，減小溫度對探測器測量的影響。通過公式(1)計算得到S13735、G12180和G121833種探測器的試驗前后的光譜響應率的相對變化率如圖5、圖....

圖6G12180和G12183試驗前后光譜響應率相對變化率

紅外探測器制冷器制冷驅動電流在室溫22℃條件下進行測試（注：編號1～5表示5只InGaAsG12180探測器，編號6～9表示4只InGaAsG12183探測器），測試結果及變化率如圖10所示。圖7S13735探測器試驗前后暗電流值

圖8G12180探測器試驗前后暗電流值

圖7S13735探測器試驗前后暗電流值圖9G12183探測器0mV和38mV偏壓試驗前后暗電流值

圖1浴盆曲線

實踐證明大多數設備的故障率是時間的函數，典型故障曲線稱之為浴盆曲線（Bathtubcurve），如圖1所示。浴盆曲線具有明顯的階段性，失效率隨使用時間變化分為3個階段：早期失效期（Ⅰ）、偶然失效期（Ⅱ）和耗損失效期（Ⅲ）[6,9]。在I以前是早期失效階段，主要由制造、裝配、質量....

本文編號：3955592